[发明专利]一种测量胶膜热收缩率的方法

说明书

本发明公开了一种测定胶膜热收缩率的方法。本发明的方法通过铝合金板与滑石粉组合搭配，有效防止了胶膜熔体粘连，使熔化的胶膜能够自由收缩，测得的胶膜热收缩率更准确，且本发明方法通过厚纸‑铝合金板‑胶膜‑铝合金板‑厚纸的结构，可以更好模拟层压时胶膜受力状态，从而更准确地测量层压状态下封装胶膜热收缩率。

技术领域

本发明属于热收缩率测量领域，具体涉及一种测量胶膜热收缩率的方法。

背景技术

光伏组件封装胶膜包括乙烯-醋酸乙烯酯聚合物胶膜(EVA)、聚乙烯醇缩丁醛胶膜(PVB)、聚烯烃封装胶膜(POE)及乙烯-丙烯酸盐等的离子键聚合物(EVB)等。封装胶膜的热收缩率在实际使用中是关键质量指标。封装胶膜一般分为纵向和横向收缩，在使用过程中胶膜受热融化，收缩率过大会导致晶硅组件位移、并片等现象，如果胶膜的粘弹性不好，或者局部收缩过大等原因，就可能导致缺胶现象，最终会影响光伏组件的光电转换效率。因此，在封装胶膜使用前，须严格管控其热收缩率指标。

现有技术主要通过玻璃法或热砂法测量封装胶膜的热收缩率。其中，玻璃法测量封装胶膜热收缩率的一个方法为：在试样制备和测量前，样品应在环境温度(23℃±2℃)，相对湿度(50％±5％)条件下静置2h以上，按封装胶膜纵向长度200mm和横向宽度100mm的尺寸切割试样，分别在胶膜宽幅方向中间取一个和两侧距边缘50mm处各取一个试样，共制备3个试样。先将3.2mm厚的压花玻璃的光面向上，将其放入预先升温至120℃的干燥箱中，使其温度控制在120℃±5℃，然后将试样平放在玻璃表面上，加热3min后，取出冷却至室温，测量距离最小处的长度(L，mm)和宽度(B，mm)。

热砂法测量封装胶膜热收缩率的一个方法为：在试样制备和测量前，样品应在环境温度(23℃±2℃)，相对湿度(50％±5％)条件下静置2h以上，按封装胶膜纵向长度200mm和横向宽度100mm的尺寸切割试样，分别在胶膜宽幅方向中间取一个和两侧距边缘50mm处各取一个试样，共制备3个试样。先将砂石铺在硅油涂布的纸上，将其放入预先升温至120℃的干燥箱中，使其温度控制在120℃±5℃，然后将试样平放在砂石表面上，加热3min后，取出冷却至室温，测量距离最小处的长度(L，mm)和宽度(B，mm)。

上述玻璃法和热砂法测量胶膜热收缩率按式(1)和式(2)计算，取3组试样的算术平均值，精确至0.1％。

纵向MD：

横向TD：

式中C—热收缩率，％；

L—收缩后的长度，mm；

B—收缩后的宽度，mm；

但玻璃法测量封装胶膜热收缩率的方法中，加热至120℃时，胶膜已有部分熔化，胶膜熔体与玻璃接触，由于胶膜的粘性，限制了胶膜的自由收缩，测得的热收缩率偏小。而热砂法测量封装胶膜热收缩率的方法中，在采用硅油涂布的纸上再放胶膜，胶膜熔体对收缩的影响并未完全消除，部分砂石会粘在胶膜表面，也得不到真正的热收缩率。且上述玻璃法和热砂法都不能更好的模拟层压时，胶膜的受力状态下的热收缩，测得的胶膜热收缩率都不够准确。

因此，研究一种对胶膜热收缩影响小，能更准确测量胶膜热收缩率，尤其是准确测量层压状态下胶膜热收缩率的方法具有重要意义。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明的目的在于提供一种能更准确测量封装胶膜热收缩率的方法，更进一步地，提供一种能更好模拟层压时胶膜受力状态，从而更准确地测量层压状态下封装胶膜热收缩率的方法。

为此，本发明第一方面提供了一种测定胶膜热收缩率的方法，其包括以下步骤：

(1)切割胶膜获得平行四边形的待测胶膜样品，记录待测胶膜样品的纵向长度和横向宽度；