[发明专利]一种半导体晶圆打磨清洗装置在审

专利信息
申请号: 202110455589.4 申请日: 2021-04-26
公开(公告)号: CN113290466A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 高兵
主分类号: B24B19/22 分类号: B24B19/22;B24B55/06;H01L21/67
代理公司: 南昌逸辰知识产权代理事务所(普通合伙) 36145 代理人: 石聪灿
地址: 427000 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 打磨 清洗 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体晶圆打磨清洗装置,包括工作主体(1),其特征在于,所述工作主体(1)上端连接有清洗箱(101),所述工作主体(1)下端连接有水箱(103),所述清洗箱(101)内转动连接有第一放置件(102),所述第一放置件(102)内滑动连接有多组晶圆主体(104),所述第一放置件(102)上滑动连接有第二放置件(106),所述第二放置件(106)上靠近第一放置件(102)的一侧连接有固定块(108),所述第一放置件(102)上滑动连接有多组固定销(107),所述第二放置件(106)、固定块(108)上均设有与固定销(107)相匹配的固定孔,所述工作主体(1)上转动连接有与清洗箱(101)相匹配的箱门(105),所述清洗箱(101)下端连接有驱动电机(2),且所述驱动电机(2)连接在水箱(103)的上端,所述驱动电机(2)输出端固定连接有转动主轴(201),所述转动主轴(201)远离驱动电机(2)的一端与第一放置件(102)固定连接,所述工作主体(1)内靠近驱动电机(2)的一端连接有吸水部件,所述吸水部件用于将水箱(103)内的水吸入清洗箱(101)内,所述工作主体(1)内连接有控制部件,所述控制部件用于控制吸水部件吸水,所述吸水部件下蹲连接有过滤部件,所述过滤部件用于对清洗后的水进行过滤。

2.根据权利要求1所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述吸水部件包括转动凸轮(3),所述驱动电机(2)上端设有转动箱(202),所述转动凸轮(3)固定连接在转动主轴(201)上,且所述转动凸轮(3)与转动箱(202)相匹配。

3.根据权利要求2所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述转动凸轮(3)两侧对称设有吸水腔(303),所述吸水腔(303)内滑动连接有推板(302),所述推板(302)靠近转动凸轮(3)的一侧固定连接有连接杆(301),所述连接杆(301)远离推板(302)的一端与转动凸轮(3)滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述吸水腔(303)下端连接有吸水管(304),所述吸水管(304)远离吸水腔(303)的一端与水箱(103)相连接,所述吸水腔(303)上端一侧连接有第一排水口(306),所述第一排水口(306)与清洗箱(101)相连接,且所述第一排水口(306)、吸水管(304)内均连接有单向阀。

5.根据权利要求3所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述吸水腔(303)上端远离第一排水口(306)的一侧连接有吸水口(7),所述吸水口(7)内连接有单向阀,且所述吸水口(7)、第一排水口(306)分别位于推板(302)两侧。

6.根据权利要求5所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述控制部件包括导向杆(4),所述导向杆(4)对称固定连接在清洗箱(101)内,所述清洗箱(101)内滑动连接有浮动板(401),所述浮动板(401)与导向杆(4)滑动连接,且所述浮动板(401)为中空结构。

7.根据权利要求6所述的一种半导体晶圆打磨清洗装置,其特征在于,所述导向杆(4)上下两端对称滑动连接有第一滑块(402)、第二滑块(403),所述第一滑块(402)与第二滑块(403)之间连接有引线(404),且所述浮动板(401)位于第一滑块(402)、第二滑块(403)之间,所述第二滑块(403)下端固定连接有拉杆(405),所述拉杆(405)远离第二滑块(403)的一端固定连接有三角块(406),所述三角块(406)、拉杆(405)均与工作主体(1)滑动连接。

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