[发明专利]一种多元硬质膜及其制备工艺在审
申请号: | 202110452231.6 | 申请日: | 2021-04-26 |
公开(公告)号: | CN113106391A | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
发明(设计)人: | 潘振强;朱惠钦;潘又铭;施华锋 | 申请(专利权)人: | 广东振华科技股份有限公司 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/16;C23C14/35;C23C16/34;C23C16/36;C23C16/50 |
代理公司: | 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 | 代理人: | 曹爱红 |
地址: | 526020 广东省肇庆市端*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多元 质膜 及其 制备 工艺 | ||
1.一种多元硬质膜的制备工艺,其具体步骤是:
(1)选用不锈钢基片;
(2)在镀膜室内采用柱弧镀的方式对不锈钢基片表面进行轰击处理;
(3)溅射沉积第一膜层Cr层:采用Ar在中频电源的作用下离化轰击Cr靶表面,溅射沉积Cr层;
(4)溅射生成第二膜层CrN层:向镀膜室内输入Ar和N2离化溅射气体,在中频电源的作用下,溅射Cr靶表面,生成CrN层;
(5)生成第三膜层CrSiN层:向镀膜室继续输入Ar和N2离化溅射气体,在中频电源的作用下,溅射Cr靶的同时通过液体质量流量计通入有机硅前驱体,在中频电源的辉光作用下,有机硅单体同时进行裂解,所生产的硅元素与溅射的Cr,离化的N2,共同作用生成CrSiN层;
(6)生成第四膜层CrSiCN层:加入C2H2乙炔反应气体,在中频电源的作用下,实现C2H2、有机硅前驱体的裂解和Cr靶的溅射,生成CrSiCN层。
2.根据权利要求1所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:
上述步骤(1)的选用不锈钢基片的具体过程是:选用不锈钢基片,先用含有石油醚脱脂棉擦除基片表面因抛光后残留的颗粒,再用乙醇去除剩余的石油醚,之后用含有5%烧碱溶液和碳酸钙粉末的脱脂棉摩擦表面,去除基片表面油污,再用去离子水冲洗基片表面的烧碱和碳酸钙粉;然后再重复上述操作一次后,用4%的稀盐酸清洗剩余的碱液,最后用去离子水冲洗干净,接下来再分别在丙酮、酒精、去离子水溶液中分别超声10分钟,最后用氮气枪吹干,置于110℃鼓风烘箱中8分钟,待冷却下来后,用铝箔包待用。
3.根据权利要求1所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:
上述步骤(2)所述的对不锈钢基片表面进行轰击处理的具体过程是:在镀膜室内先采用柱弧对基材表面进行轰击处理,柱弧放电处理条件为:真空度为2-10Pa,放电电压为1000V-5000V,常温条件下放电处理的时间为5-15分钟。
4.根据权利要求3所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:所述镀膜室内真空度5Pa,电压为3000V,常温条件下放电处理时间为10分钟。
5.根据权利要求1所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:上述步骤(3)所述的溅射沉积第一膜层Cr层中,中频电源为40kHz,所述Cr层的厚度范围为5nm至100nm。
6.根据权利要求5所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:所述第一膜层Cr层的厚度优选为10nm。
7.根据权利要求1所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:上述步骤(4)所述的溅射生成第二膜层CrN层中,Ar的含量为55sccm,N2的含量通过气体质量流量计控制,其数值范围为5sccm至50sccm;CrN层的厚度范围为500nm至5000nm。
8.根据权利要求7所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:所述Ar的含量为55sccm,CrN层的厚度为1000nm。
9.根据权利要求1所述的多元硬质膜的制备工艺,其特征在于:
上述步骤(5)所述的生成第三膜层CrSiN层中,Si元素来自于有机硅单体在反应溅射过程中有机硅单体的裂解,有机硅单体是四甲基硅烷(TEOS)或六甲基硅烷(HMDSO)或八甲基硅烷或四氢化硅(SiH4)中的一种或者多种有机硅前驱体,所述乙炔气体的流量范围为5sccm至50sccm,CrSiCN层的厚度范围为500nm至5000nm。
10.一种由权利要求1至9任一项所述的多元硬质膜的制备工艺所制得的多元硬质膜,其特征在于:包括不锈钢基片,以及在不锈钢基片表面的第一膜层Cr层、第二膜层CrN层、第三膜层CrSiN层以及第四膜层CrSiCN层。
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