[发明专利]一种地下目标高精度成像探测方法有效

专利信息
申请号: 202110449630.7 申请日: 2021-04-25
公开(公告)号: CN113240791B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 徐立军;孙江涛;索鹏;孙世杰;谢跃东 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G06T7/136;G06T7/194;G06F17/10
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 易卜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 地下 目标 高精度 成像 探测 方法
【权利要求书】:

1.一种地下目标高精度成像探测方法,其特征在于,具体过程包括:针对某个探测的地下目标,对该目标实际测量电压值并利用反演法计算各电性参数的分布,构成初始图像;然后,用设定的阈值将初始图像分割成目标区域和背景区域;在目标区域内均匀设置与基函数一一对应的控制点,并给每个控制点分别对应一个表征系数;控制点是基函数的中心位置参数,两者维度一致;针对第i个控制点,fi表示第i个控制点对应的基函数,ρi表示第i个控制点对应的表征系数;利用正演法和高斯牛顿法对各表征系数进行迭代优化;最后,利用优化后的表征系数,计算整个成像区域的电性参数的分布,重构地下目标的最终成像;

所述的对表征系数进行迭代优化的过程如下:

步骤401,初始化迭代次数k=1和各控制点的表征系数ρ1=[1,1,1,..., 1,1,1];

步骤402,针对第k次迭代,利用当前次迭代对应的表征系数,计算整个成像区域的电性参数的分布gk

电性参数分布计算为:

gk表示第k次迭代下成像区域中所有电性参数的矩阵数组,n表示控制点或基函数的维度;表示第k次迭代下第i个控制点对应的表征系数;fi表示第i个控制点对应的基函数;(x,y,z)表示初始的整个成像区域中每个电性参数的空间三维坐标;

步骤403、将第k次迭代的电性参数分布gk带入正演方法中,计算测量值以及对应的雅可比矩阵Jk

测量值计算公式为:

表示第k次迭代下计算的测量数据;F(·)表示正演计算函数;

雅可比矩阵Jk计算公式为:

步骤404、计算第k次迭代下的测量值与实际测量值之间的差值e;

m表示实际的测量数据;

步骤405、判断差值e是否小于设定的误差阈值,如果是,输出电性参数分布gk并结束循环;否则进入步骤406;

步骤406、利用第k次迭代的雅可比矩阵和测量值计算当前次迭代下的迭代增量Δρk

λ表示迭代步长,β表示正则化因子,I表示单位矩阵;

步骤407、利用迭代增量Δρk更新下一次迭代的表征系数;

ρk+1=ρk+Δρk

ρk+1表示第k+1次迭代对应的表征系数;ρk表示第k次迭代对应的表征系数;

步骤408、将第k+1次迭代对应的表征系数作为当前迭代,返回步骤402。

2.如权利要求1所述的一种地下目标高精度成像探测方法,其特征在于,所述的电性参数为电导率,磁导率和介电常数。

3.如权利要求1所述的一种地下目标高精度成像探测方法,其特征在于,所述的初始图像重建计算公式为:

g0=T(m)

其中,g0表示初始重建图像中所有电性参数的矩阵数组,T表示反演函数,m表示实际的测量数据。

4.如权利要求1所述的一种地下目标高精度成像探测方法,其特征在于,所述的分割后的目标区域Ωt计算公式为:

Ωt={(x,y,z)|g0(x,y,z)≤gt}

分割后的背景区域Ωb计算公式为:

Ωb={(x,y,z)|g0(x,y,z)>gt}

g0表示初始重建图像中所有电性参数的矩阵数组,(x,y,z)表示初始的整个成像区域中每个电性参数的空间三维坐标,gt表示设定的分割阈值。

5.如权利要求1所述的一种地下目标高精度成像探测方法,其特征在于,所述的重构地下目标的最终成像,具体公式如下:

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