[发明专利]电压的相位差处理方法、装置、电子设备和存储介质

权利要求书

1.一种电压的相位差处理方法，所述方法包括：

分别获取断路器两侧的第一电压频率和第二电压频率；

基于所述第一电压频率对应的第一采样频率，所述第二电压频率对应的第二采样频率，分别对所述断路器两侧的第一电压和第二电压进行采样，得到第一电压采样序列和第二电压采样序列；

分别对所述第一电压采样序列和所述第二电压采样序列进行插值计算，得到对应的第一电压和第二电压；

对所述第一电压和所述第二电压分别进行傅里叶变换，得到所述第一电压的第一相位角和所述第二电压的第二相位角；

根据所述第一相位角和所述第二相位角，确定所述断路器两侧的所述第一电压和所述第二电压的相位差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对所述第一电压采样序列和所述第二电压采样序列进行插值计算，得到对应的第一电压和第二电压，包括：

确定所述第一电压采样序列和所述第二电压采样序列的采样点；

分别对所述第一电压采样序列和所述第二电压采样序列在每两个相邻的所述采样点之间进行插值，得到对应的第一电压和第二电压。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一电压和所述第二电压分别进行傅里叶变换，得到所述第一电压的第一相位角和所述第二电压的第二相位角，包括：

分别对所述第一电压和所述第二电压进行傅里叶分解，得到所述第一电压对应的第一电压基波和所述第二电压对应的第二电压基波；

确定所述第一电压基波的实部与虚部和所述第二电压基波的实部与虚部，根据所述第一电压基波的实部与虚部得到所述第一电压的第一相位角，根据所述第二电压基波的实部与虚部得到所述第二电压的第二相位角。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述第一相位角和所述第二相位角，确定所述断路器两侧的所述第一电压和所述第二电压的相位差之后，还包括：

基于对所述第二电压进行傅里叶变换后得到的所述第二电压对应的高次谐波，对所述第二相位角和所述相位差进行一次修正。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于对所述第二电压进行傅里叶变换后得到的所述第二电压对应的高次谐波，对所述第二相位角和所述相位差进行一次修正，包括：

基于对所述第二电压进行傅里叶变换后得到的所述第二电压对应的高次谐波，对所述第二电压进行一次修正，确定一次修正第二电压；

确定所述一次修正第二电压的傅里叶变换区间，对所述一次修正第二电压进行傅里叶变换，得到所述一次修正第二电压的一次修正第二电压基波；

确定所述一次修正第二电压基波的实部与虚部，根据所述一次修正第二电压基波的实部与虚部，得到所述一次修正第二电压的一次修正第二相位角；

根据所述第一相位角和所述一次修正第二相位角，确定所述断路器两侧的所述第一电压和所述第二电压的一次修正相位差。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在所述根据所述第一相位角和所述一次修正第二相位角，确定所述断路器两侧的所述第一电压和所述第二电压的一次修正相位差之后，还包括：

基于对所述一次修正第二电压进行傅里叶变换时的采样时间窗频率，对所述第一相位角、所述一次修正第二相位角和所述一次修正相位差进行二次修正。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于对所述一次修正第二电压进行傅里叶变换时的采样时间窗频率，对所述第一相位角、所述一次修正第二相位角和所述一次修正相位差进行二次修正，包括：

确定所述一次修正第二电压的傅里叶变换区间中的实际电压频率，将所述实际电压频率与所述采样时间窗频率进行比较，在所述实际电压频率与所述采样时间窗频率不相等时，根据所述采样时间窗频率和对应的采样时间窗周期对所述第一相位角和所述一次修正第二相位角进行二次修正，确定二次修正第一相位角和二次修正第二相位角；

基于所述二次修正第一相位角和所述二次修正第二相位角，确定所述断路器两侧的所述第一电压和所述第二电压的二次修正相位差。