[发明专利]一种晶圆冲洗甩干机及清洗甩干方法在审

专利信息
申请号: 202110442233.7 申请日: 2021-04-23
公开(公告)号: CN114464548A 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 涂辉 申请(专利权)人: 谷微半导体科技(江苏)有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/02;B08B3/02
代理公司: 上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333 代理人: 张静
地址: 226000 江苏省南通市开发区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 冲洗 甩干机 清洗 方法
【说明书】:

本发明属于晶圆加工设备技术领域,具体涉及一种晶圆冲洗甩干机及清洗甩干方法。本发明提供了一种晶圆冲洗甩干机,包括至少一个功能模块和结构组件所述功能模块包括腔体、腔门、所述腔体和腔门相对设置,所述腔体的表面设置有伺服电机、喷水装置、加热装置、静电消除器、电磁阀;采用模块化设计,每个功能模块包含所有功能,结构简单、设计合理、易于生产,每个模块单独控制,独立运行,让其能够根据用户对于腔体个数的需要对其进行组装,形成单腔或者多腔结构,降低了改设备的制作难度和投入成本,让用户有更多的选择空间,从而让其能够更好的满足客户的需要。

技术领域

本发明属于晶圆加工设备技术领域,具体涉及一种晶圆冲洗甩干机。

背景技术

晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅。高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅。硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆。随着第三代半导体制程的不断发展,晶片清洗技术也在逐步完善。晶片在研磨、抛光、外延等工艺过程中,难以避免的受到环境、人员、设备、工具等影响而引入污染物。其中,污染物可大致分类为颗粒、有机物、金属污染物、氧化层。在半导体晶片的制造过程中,特别是外延生长过程前后,如晶片表面有污染物残留,会直接导致外延片失效,或者器件加工失效,因此在晶片进行外延前,为避免污染物的影响必须对晶片进行清洗。半导体晶片清洗方法有湿法清洗、干法清洗及干湿结合清洗,其中又以湿法清洗为主流清洗方法。该清洗工艺完成后需要对晶圆进行干燥,晶圆甩干机用于将潮湿的晶圆通过旋转及干燥使晶圆表面干燥。为了提高干燥洁净效果,业内采用往密封的甩干机筒体内通入洁净氮气,使设备具有强制干燥功能,晶圆在甩干的同时,附加氮气干燥作用,彻底去除晶圆表面的尘粒,让晶圆表面干燥。

现有的晶圆清洗甩干设备一般存在以下问题:

(1)现有的晶圆清洗甩干设备通常为单腔或者双腔,无论是单腔还是双腔的设备其支架和外壳需要分别设计和生产。设计生产成本加大。且在后期使用的过程中,用户无法根据实际的需要选择单腔或者双腔,用户选用不灵活,买了双腔的想变成单腔的变不了。买了双腔的想变成单腔的同样变不了,从而导致企业的生产设备的投入增加;与此同时,现有的双腔设备在使用过程中其大多都是需要同步工作的,然而在实际的使用过程中,可能只需要使用一个腔体,这就会导致资源的浪费,因而现有的晶圆冲洗甩干设备有待于提高。

(2)晶圆清洗甩干过程需要对甩干结构进行精准的控制,公开号为CN109950185A的发明专利提供了一种晶圆甩干设备,包括定位装置,所述定位装置还包括编码器,所述编码器用于监测电机的转速,且与直线驱动件电连接。但是外置编码器容易受到外界环境干扰,油污、电磁场等因素都会影响外置编码器的工作精度;而且,编码器安装需要的支架、配套应用的齿盘、安装齿盘的涨套等都是非标定制件,使用非标定制件不仅生产成本比较高,而且对工人的技术水平要求也会更高,增加人力成本和维修难度。

(3)加工后的晶圆通常需要对其表面清洗,当前大多数都是通过晶圆冲洗甩干设备对其进行表面处理。现有的晶圆冲洗甩干设备的清洗后的晶圆盒需要人工拿出,人手伸入腔体将晶圆盒向外拉。再用双手托出,其整个过程不仅工作效率较低,会浪费大量的人力和时间,严重的影响其生产效率,同时还会对晶圆表面造成二次污染,影响其加工质量,因而现有的晶圆冲洗甩干设备还有待于改进。

(4)晶圆清洗甩干设备的筒体的密封性尤为重要,密封性的高低直接影响到晶圆的干燥效果和最终的产品质量。现有的晶圆冲洗甩干设备的门处有个密封圈,关闭门后要通入压缩空气将密封条涨大锁住门。保证高速清洗时的安全性。压缩空气现在的进入方式是从门的固定块经过门轴进入到门板,再由门板进入到密封圈。这个设计结构比较复杂,经过转动的门轴,既要密封不漏气还要让门能够转动。技术难度比较高。成本比较大,维修保养比较困难。一旦门轴处漏气,密封压力低于安全密封压力。容易产生事故。

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