[发明专利]一种集成电路晶圆正面处理工艺在审

专利信息
申请号: 202110433196.3 申请日: 2021-04-22
公开(公告)号: CN113140468A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 肖广源;罗红军 申请(专利权)人: 上海华友金裕微电子有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48
代理公司: 常州市科谊专利代理事务所 32225 代理人: 孙彬
地址: 201700 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 正面 处理 工艺
【说明书】:

发明公开了一种集成电路晶圆正面处理工艺,本发明的有益效果:本处理工艺通过在晶圆基面的表面覆锌,方便将镊与金覆在晶圆上;钯比较稳定,镍和金都容易发生离子迁移,镍层上覆钯,可以把镍层和金层隔开,防止金和镍之间的相互迁移,不会出现黑镍现象。

技术领域:

本发明属于电路晶圆处理技术领域,特别涉及一种集成电路晶圆正面处理工艺。

背景技术:

利用化学方式在晶圆正面覆盖金属层的设计,主要应用在高档功率器件、传感器芯片领域,例如IGBT、霍尔传感器等,利用此工艺完成的高档功率器件、传感器表面金属层结合力好,可以降低接触电阻、热阻,而在晶圆处理过程中,由于晶圆正面的基层为铝基材,不能直接覆镍处理。

发明内容:

本发明的目的在于提供一种集成电路晶圆正面处理工艺。

为了解决上述问题,本发明提供了一种方案:

一种集成电路晶圆正面处理工艺,包括以下步骤:

步骤一:采用化学方式对晶圆表面进行脱脂,通过碱性溶液、表面活性剂的皂化和乳化作用清除晶圆表面的油脂、异物质,脱脂液的温度控制范围在60~100℃,先将晶圆放置在特制的提篮中,将提篮整体浸泡在碱性溶液、表面活性剂中,碱性溶液通过循环泵不停的循环,冲击晶圆的正面、背面,去除油脂、异物质,使晶圆正面基层保持清洁,脱脂完成后,进行晶圆水清洗,去除残液,保证晶圆的洁净,清洗不干净会影响后续镀层的结合力;

步骤二:晶圆表面酸化后放置一段时间,晶圆正面基层会发生氧化,为保证晶圆正面基层与金属的结合效果,覆镀前需要去除晶圆正面基层上的氧化层,去除晶圆正面基层上的氧化物,并对晶圆正面基层进行微蚀,使晶圆正面基层表面形成锯齿状,提高晶圆正面基层与金属层的结合力,将经过前道水清洗过的提篮放置到酸化槽中,酸液通过循环泵不停的循环,与晶圆正面基层发生反应,去除晶圆正面基层表面的氧化层,同时形成锯齿状,酸化工艺完成后,对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液,

步骤三:晶圆表面覆锌,由于晶圆正面的基层为铝基材,不能直接覆镍处理,镍层与铝层不能很好的结合,镍层容易脱落,需要在晶圆正面基层上先覆锌处理,然后再在锌层上完成覆镍处理,将装有晶圆的提篮放置到锌溶液槽中,锌溶液通过循环泵循环,锌溶液在晶圆正面基层上通过化学方式覆上一层锌,完成后,需要对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液,保持晶圆洁净。

步骤四:第一次在晶圆正面基层上覆锌后,形成的锌层比较的粗糙,孔隙比较大,结合力差,需要进行一次退锌然后再覆锌,这样形成的锌层就比较的均匀细腻,致密性好,结合力强,具体为将装有晶圆的提篮放置在退锌溶液中,退锌溶液通过循环泵循环,退去晶圆表面上的第一次覆锌,退覆工艺完成后,对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液。

步骤五:退锌后二次覆锌形成的锌层会比较的均匀细腻,致密性好,与镍层的结合力好,具体为将装有晶圆的提篮放置在锌溶液中,锌溶液通过循环泵循环,锌溶液在晶圆正面基层上第二次覆锌,得到致密性好,均匀细腻的锌层,为后道覆镍作准备,覆锌工艺完成后,对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液。

步骤六:镍层具有很好的结合力和焊接性能,同时镍层均匀致密,孔隙率低。此步骤采用化学镀的方式在锌层上覆一层镍,镍层厚度范围可控,范围基本在1~15um,具体为将装有晶圆的提篮放置在镍溶液中,镍溶液槽采用不锈钢制,镍溶液通过循环泵循环,在晶圆正面基层上覆上一层镍,覆镍工艺完成后,对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液。

步骤七:钯比较稳定,镍和金都容易发生离子迁移,镍层上覆钯,可以把镍层和金层隔开,防止金和镍之间的相互迁移,不会出现黑镍现象,此步骤采用化学镀的方式在镍层上覆一层钯,钯层厚度范围可控,范围基本在0.1~1um,具体为把装有晶圆的提篮放置在钯溶液中,钯溶液槽采用石英制成,钯溶液通过循环泵循环,钯溶液在晶圆正面基层上覆上一层钯,覆钯工艺完成后,对晶圆进行水清洗,去除晶圆上的残液。

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