[发明专利]用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法

权利要求书

1.一种用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一、确定影响电容传感器效果的主要参数；对所述主要参数进行二水平全因子实验，得到仿真数据；

步骤二、对仿真数据进行因子分析得到的效应影响结果图，确定对各电容传感器效果影响显著的主要参数的种类，及对各电容传感器效果影响显著的主要参数件的交互效应，从而确定各对各电容传感器效果影响显著的主要参数的取值范围；

步骤三、根据各电容传感器效果影响显著的主要参数件的交互效应，在确定的取值范围内进行仿真优化，得到若干组优化结果，对优化结果进行实验，选择最优的优化结果。

2.如权利要求1所述的用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法，其特征在于，所述电容传感器效果包括信号强度、灵敏度和渗透深度。

3.如权利要求1所述的用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法，其特征在于，所述交互效应包括正效应和负作用。

4.如权利要求1所述的用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法，其特征在于，所述影响电容传感器效果的主要参数包括金属电极的对数N、电极宽度与间隙之比K，电极厚度D1，基底材料介电常数E，基底厚度D2。

5.如权利要求4所述的用于电缆绝缘检测的叉指型电容传感器结构参数优化方法，其特征在于，所述最优的优化结果为选择介电常数为4的PI作为基底材料，基底厚度D2＝50μm；电极厚度D1＝18μm-36μm。