[发明专利]一种盖板平震分拣机在审
申请号: | 202110423076.5 | 申请日: | 2021-04-20 |
公开(公告)号: | CN113118066A | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 张国安 | 申请(专利权)人: | 铜陵市多元微分科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342;B07C5/34;B07C5/10;B07C5/02;B07C5/36 |
代理公司: | 铜陵市天成专利事务所(普通合伙) 34105 | 代理人: | 范智强 |
地址: | 244000 安徽省铜陵市高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 盖板 分拣 | ||
本发明公开了一种盖板平震分拣机,包括基座,基座顶面设有至少两个叠料调整旋钮,基座侧面底部依次设有高度调节板、来料感应孔a、卸料孔和翻面导向板,所述高度调节板与叠料调整旋钮相适应;所述基座底面固接两个叠料调节板,所述两个叠料调节板首尾相连,并延伸出基座体外;所述叠料调节板延伸出基座一侧设有来料感应孔b和不合格品卸料孔;所述叠料调节板延伸出基座一侧表面还设有复片调节板;所述叠料调节板侧边固接沿板,所述沿板位于高度调节板底部;所述基座顶部侧边与电磁振动送料器相连;所述接料装置包括待定品料口,所述待定品料口与来料感应孔b适应;所述来料感应孔b水平方向设有不合格品料口;所述来料感应孔b垂直方向设有合格品料口。
技术领域
本发明涉及晶片分拣设备技术领域,尤其涉及一种盖板平震分拣机,用于SMD晶振盖板合格及不合格成品的分拣。
背景技术
石英晶体元器件在频率控制及频率选择领域的应用,为人类的科技发展做出了巨大的贡献。中国晶振行业作为后来者在晶体制造领域还缺乏很多的核心竞争力,中国企业在开发新工艺,技术人员培养,制造方法,和相关的设备研发能力严重不足,特别是SMD晶振制造设备和制造技术大部分依赖进口,在制造小型化SMD晶振产品时,尤其是2520,1612等超小型晶体,日本公司的制造能力远比中国企业强。
SMD晶振盖板制造是晶体制造中的重要一环,SMD晶振盖板外观质量检测,是产品出厂前的最后一道把控程序。目前在生产SMD晶振盖板的有些中国企业,大部分还在使用人工进行分拣,虽然也有些中国企业开发出相应的分拣设备,但结构复杂,运维成本高,基本都是由传送单元和图像识别处理单元构成,传送单元包括加料器,玻璃圆盘料台,机械手搬运装置构成,在玻璃圆盘上方和下方设有光源和摄像头进行识别处理,但是现有的自动检测设备收集合格品时需要压缩空气,会对产品造成二次污染,玻璃下方的摄像头对产品的背面进行检测时,由于中间隔着玻璃会对需要检测的产品产生误判,这些缺陷。给生产企业造成了很大的困扰。发明一种运行成本低,结构简单,稳定可靠的分拣设备势在必行。
专利号 CN201610817746.0,公开了一种太阳能硅晶片缺陷检测系统,包括:视觉图像采集系统、图像处理系统和分拣系统;所述视觉图像采集系统用于在硅晶片自动生产线上自动采集硅晶片的图像,所述图像处理系统用于分析采集到的硅晶片图像,并对硅晶片图像进行自动识别,并将识别的信号发送至分拣系统,分拣系统用于执行图像处理系统的信号,分拣出有缺陷的硅晶片,并将相同缺陷的硅晶片分拣至相同的分拣箱内,实现硅晶片的精准分拣。但该发明检测对晶片的检测角度和检测方位受到了一定限制,不能完全将有缺陷的晶片分拣出来。
发明内容
本发明解决的一个技术问题是,为解决背景技术中所提到的问题,现提供一种可自动翻面调节式的盖板平震分拣机,能够对产品的外观、色差、形状进行多面检测,以及能够及时准确的对分拣产品进行分拣。
本发明采用的技术方案是:包括箱体,所述箱体内设有送料装置、相机检测装置、平震检测调节装置、接料装置和控制装置;所述箱体表面设有报警装置;
所述平震检测调节装置包括基座,所述基座顶面设有至少两个叠料调整旋钮,所述基座侧面底部依次设有高度调节板、来料感应孔a、卸料孔和翻面导向板,所述高度调节板与叠料调整旋钮相适应;所述基座底面固接两个叠料调节板,所述两个叠料调节板首尾相连,并延伸出基座体外;所述叠料调节板延伸出基座一侧设有来料感应孔b和不合格品卸料孔;所述叠料调节板延伸出基座一侧表面还设有复片调节板;所述叠料调节板侧边固接沿板,所述沿板位于高度调节板底部;所述基座顶部侧边与电磁振动送料器相连;
所述接料装置包括待定品料口,所述待定品料口与来料感应孔b适应;所述来料感应孔b水平方向设有不合格品料口;所述来料感应孔b垂直方向设有合格品料口。
作为本发明的进一步改进,所述送料装置包括圆震送料器;所述圆震送料器通过阻尼器固接在减震垫板表面;所述送料装置送料口与基座相连接。
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