[发明专利]一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明公开了一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质，包括：通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪以及数字测试设备，根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试；所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，并根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试；返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。本发明实施例的技术方案可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术领域，尤其涉及一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

随着第五代移动通信技术（5th generation mobile networks，5G）建设的进行，国内对于相关射频器件和芯片的需求日益增加，而因为5G通讯精度相比以前大大提升，对于射频芯片的要求也就更高了，因此需对射频芯片进行一系列的性能测试。

目前对射频芯片测试的方案主要包括两种，第一种是借助低端数字自动化测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）对射频芯片进行测试，另一种是将数字ATE与PXI（PCIeXtensions for Instrumentation，面向仪器系统的PCI扩展）射频测试仪进行结合，共同对射频芯片进行测试。

但是，第一种方法中，对射频芯片的发射性能进行测试时，数字ATE为了获取射频芯片的射频参数，需要减少设备内部的数字逻辑测试板卡，以装配射频测试板卡，导致测试精度较低；第二种方法中，由于PXI射频测试仪为非全双工的4通道射频仪，每次只能对一个射频芯片进行测试，导致多个射频芯片的测试过程非常耗时，测试效率较低；其次，由于PXI射频测试仪架构陈旧，导致测试过程难度较大，并且PXI射频测试仪很难兼容最新的射频产品协议，有效性较低。

发明内容

本发明实施例提供了一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质，可以提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。

第一方面，本发明实施例提供了一种射频芯片的测试方法，所述方法包括：

通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

第二方面，本发明实施例还提供了一种射频芯片的测试装置，该装置包括：

发射测试模块，用于通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号，并通过所述射频仪以及所述数字测试设备，根据各所述射频信号对各所述待测件进行发射性能的测试；

其中，所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；

接收测试模块，用于通过数字测试设备控制各所述待测件接收所述射频仪发送的数据包，并根据各所述待测件的接收结果，对各所述待测件进行接收性能的测试；

返回执行模块，用于返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向预设的射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。

第三方面，本发明实施例还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器执行本发明任意实施例提供的射频芯片的测试方法。