[发明专利]相位解包裹方法及装置

权利要求书

1.一种相位解包裹方法，其特征在于，包括：

获取物体的第一图片序列，并对所述第一图片序列进行处理，得到所述物体的第一平均强度图和包裹相位图；其中，所述第一图片序列为将生成的测量条纹序列投影至所述物体表面时得到的图片序列；

获取所述物体的第二图片序列，并对所述第二图片序列进行处理，得到所述物体的编码相位图、第二平均强度图和强度调制图；其中，所述第二图片序列为将生成的复合条纹序列投影至所述物体表面时得到的图片序列；所述复合条纹序列为嵌入相位码字和灰度码字后的条纹序列；

基于所述编码相位图、所述第一平均强度图、所述第二平均强度图以及所述强度调制图，获得所述物体的相位编码条纹阶次和灰度编码条纹阶次；

基于所述灰度编码条纹阶次和所述相位编码条纹阶次，对所述包裹相位图进行处理，得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，生成所述复合条纹序列的过程，包括：

获取各个码字计算因子和各个码字计算因子之间的处理关系；

基于所述各个码字计算因子之间的处理关系，对各个所述码字计算因子进行处理，以得到相位码字和灰度码字；

将所述相位码字和所述灰度码字均嵌入预设的标准条纹序列中，以得到复合条纹序列。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述灰度编码条纹阶次和所述相位编码条纹阶次，对所述包裹相位图进行处理，得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图，包括：

对所述灰度编码条纹阶次进行校正；

基于所述相位编码条纹阶次和校正后的灰度编码条纹阶次，对所述包裹相位图进行转换处理，以得到第一绝对相位图；

对所述第一绝对相位图进行校正，以得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述灰度编码条纹阶次进行校正，包括：

对所述灰度编码条纹阶次中的每个条纹阶次子区域进行二值化处理，得到每个所述条纹阶次子区域的二值图像；

对每个所述二值图像进行孔洞填充处理，得到每个所述条纹阶次子区域的校正条纹阶次，以完成对所述灰度编码条纹阶次的校正。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述第一绝对相位图进行校正，以得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图，包括：

调用中值滤波对所述第一绝对相位图进行处理，得到第二绝对相位图；

基于所述第二绝对相位图，得到所述物体的绝对相位梯度；

基于所述绝对相位梯度和所述第二绝对相位图得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述编码相位图、所述第一平均强度图、所述第二平均强度图以及所述强度调制图，获得所述物体的相位编码条纹阶次和灰度编码条纹阶次，包括：

对所述编码相位图进行解码处理，获得所述物体的相位编码条纹阶次；

对所述第一平均强度图、所述第二平均强度图和所述强度调制图进行处理，得到所述物体的灰度编码条纹阶次。

7.一种相位解包裹装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取物体的第一图片序列，并对所述第一图片序列进行处理，得到所述物体的第一平均强度图和包裹相位图；其中，所述第一图片序列为将生成的测量条纹序列投影至所述物体表面时得到的图片序列；

第二获取单元，用于获取所述物体的第二图片序列，并对所述第二图片序列进行处理，得到所述物体的编码相位图、第二平均强度图和强度调制图；其中，所述第二图片序列为将生成的复合条纹序列投影至所述物体表面时得到的图片序列；所述复合条纹序列为嵌入相位码字和灰度码字后的条纹序列；

第三获取单元，用于基于所述编码相位图、所述第一平均强度图、所述第二平均强度图以及所述强度调制图，获得所述物体的相位编码条纹阶次和灰度编码条纹阶次；

第一处理单元，用于基于所述灰度编码条纹阶次和所述相位编码条纹阶次，对所述包裹相位图进行处理，得到对所述物体进行三维构建时使用的标准绝对相位图。