[发明专利]伪随机M阵列的构造方法、装置、计算机设备及存储介质在审
申请号: | 202110415912.5 | 申请日: | 2021-04-16 |
公开(公告)号: | CN113094023A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 周晓;康雨;牟新刚 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G06F7/58 | 分类号: | G06F7/58 |
代理公司: | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 | 代理人: | 黄君军 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 随机 阵列 构造 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.一种伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,包括:
根据线性反馈移位寄存器生成p元w阶的伪随机M序列,所述伪随机M序列为1×T的一维序列;
选取有效循环移位数k,并根据所述有效循环移位数k和所述伪随机M序列生成过渡阵列,所述过渡阵列为m×T的二维阵列;
根据所述有效循环移位数k和所述伪随机M序列生成基础阵列,所述基础阵列为h×k的二维阵列;
根据所述过渡阵列对所述基础阵列进行扩充,生成伪随机M阵列,所述伪随机阵列为(h+m-1)×(k+n-1)的二维阵列;
其中,w=m·n,T=pw-1,h=T/k,p、m、n、h、k、T均为正整数。
2.根据权利要求1所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述根据所述有效循环移位数k和所述伪随机M序列生成过渡阵列包括:
将所述伪随机M序列中的每一个序列码沿预设移位方向移位m-1次,每移位一次,获得一行循环移位序列,直至获得m-1行循环移位序列,每一次移位均是将所述伪随机M序列中的每一个序列码沿预设移位方向移位k位数;
将所述伪随机M序列作为所述过渡阵列的第一行,并将所述m-1行循环移位序列依次作为所述过渡阵列的第二行到第m行,以生成所述过渡阵列。
3.根据权利要求2所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述选取有效循环移位数k包括:
建立初始循环移位数集合,所述循环移位数集合中包括T个初始循环移位数,所述循环移位数为N,N<T;
根据所述初始循环移位数和所述伪随机M序列生成初始过渡阵列;
判断所述初始过渡阵列中的子阵列是否均具有全局唯一性;
若所述子阵列均具有全局唯一性,则所述初始循环移位数为可选有效循环移位数;
从所述可选有效循环移位数中选取所述有效循环移位数k。
4.根据权利要求3所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述根据所述有效循环移位数k和所述伪随机M序列生成基础阵列包括:
根据所述有效循环移位数k将所述伪随机M序列分割成h段基础短序列,每一段所述基础短序列的长度为k;
将所述h段基础短序列中的每一段基础短序列按行排列,生成所述基础阵列。
5.根据权利要求4所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述根据所述过渡阵列对所述基础阵列进行扩充,生成伪随机M阵列包括:
根据所述过渡阵列对所述基础阵列进行纵向扩充,生成纵向基础扩充阵列;
对所述纵向基础扩充阵列进行横向扩充,生成所述伪随机M阵列。
6.根据权利要求5所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述根据所述过渡阵列对所述基础阵列进行纵向扩充,生成纵向基础扩充阵列包括:
根据所述有效循环移位数k将所述过渡阵列中的第二行到第m行的过渡序列分割为h段过渡短序列;
依次获取第二行到第m行的h段过渡短序列中的最后一段过渡短序列;
依次将第二行到第m行的h段过渡短序列中的最后一段过渡短序列按行排列至所述基础短序列之后,生成纵向基础扩充阵列。
7.根据权利要求6所述的伪随机M阵列的构造方法,其特征在于,所述纵向基础扩充阵列包括h+m-1行纵向基础扩充序列,所述对所述纵向基础扩充阵列进行横向扩充,生成所述伪随机M阵列包括:
按行遍历所述过渡阵列,识别与所述纵向基础扩充序列相同的循环移位序列,并沿与所述预设移位方向相反的方向,获取与所述纵向基础扩充序列相同的循环移位序列相邻的n-1位序列码;
将所述n-1位序列码拼接至与所述循环移位序列相同的所述纵向基础扩充序列尾部,生成所述伪随机M阵列。
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