[发明专利]一种ASPM测试方法、系统、设备以及存储介质

说明书

本发明公开了一种ASPM测试方法，包括以下步骤：获取待测试设备的标识号以及所述待测试设备对应的根端口的标识号；根据所述待测试设备的标识号获取与所述待测试设备对应的第一寄存器的值以及根据所述根端口的标识号获取与所述根端口对应的第二寄存器的值；判断所述第一寄存器的值是否不小于所述第二寄存器的值；响应于所述第一寄存器的值不小于第二寄存器的值，确认测试通过。本发明还公开了一种系统、计算机设备以及可读存储介质。本发明提出的方案通过查看寄存器的方法，定位根端口的L1退出时间和待测试设备的L1退出时间之间关系，既保证了测试的准确性又大大节省了测试时间。

技术领域

本发明涉及测试领域，具体涉及一种ASPM测试方法、系统、设备以及存储介质。

背景技术

服务器中的PCIE设备如网卡、显卡、NVME等，很多都支持ASPM功能。目前Whitley平台上，支持ASPM的两种模式：L0s、L1。其中L0s为连结待机模式，L1为低耗电待机模式。由于PCIE设备较多，在进行PCIE设备的ASPM测试时，一般为在Linux下面，通过运行lspci-sxxx–vvv命令(xxx代表PCIE设备的BDF号)，然后在输出的内容中查看待测试设备的LnkCap和Device LnkCtl下的ASPM相关信息，来判断设置是否生效。

但是，现有的测试方法存在以下问题：

1、Linux OS本身自带电源管理，会对PCIE设备的ASPM功能有一定影响，故查看的结果存在不准确的可能性；

2、每次更换PCIE设备都要重新检索设备的BDF号，然后执行lspci–s BDF vvv命令，每个PCIE设备支持的功能不同，查找ASPM信息时行数较多，位置很容易查找错行。针对不同的PCIE设备，都要进行验证，测试的设备较多。尤其当设置为Per-Port时，还要对单个PCIE port单独进行ASPM的设置，测试步骤非常繁琐，通过人工查找的方式很容易出错。

3、测试不全面。没有考虑根端口和待测试设备的L1退出时间，当根端口的L1退出时间大于待测试设备的L1退出时间时，虽然待测试设备可以在缓冲区被充满前退回到L0状态，但根端口无法回退到L0状态，导致信息无法传递，缓冲区持续累加，问题产生。

因此，目前急需一种准确快捷的ASPM测试方法。

发明内容

有鉴于此，为了克服上述问题的至少一个方面，本发明实施例提出一种ASPM测试方法，包括以下步骤：

获取待测试设备的标识号以及所述待测试设备对应的根端口的标识号；

根据所述待测试设备的标识号获取与所述待测试设备对应的第一寄存器的值以及根据所述根端口的标识号获取与所述根端口对应的第二寄存器的值；

判断所述第一寄存器的值是否不小于所述第二寄存器的值；

响应于所述第一寄存器的值不小于第二寄存器的值，确认测试通过。

在一些实施例中，还包括：

根据所述待测试设备的标识号获取与所述待测试设备对应的第三寄存器的值；

根据所述第三寄存器的值判断所述待测试设备是否支持ASPM；

响应于所述待测试设备不支持ASPM管理，结束测试并输出相应结果。

在一些实施例中，还包括：

在setup界面将EFI Shell设置为第一启动项以及将ASPM选项设置为第一预设值后重启。

在一些实施例中，还包括：

根据所述待测试设备的标识号获取与所述待测试设备对应的第四寄存器的值；

判断所述第四寄存器的值是否为第一预设值；