[发明专利]一种校正串扰的方法和系统有效

专利信息
申请号: 202110414435.0 申请日: 2021-04-16
公开(公告)号: CN112991228B 公开(公告)日: 2023-02-07
发明(设计)人: 刘炎炎 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T11/00;G06N3/0464;G06N3/08
代理公司: 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 代理人: 杨永梅
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 校正 方法 系统
【说明书】:

本说明书实施例提供了一种校正串扰的方法和系统。包括获取第一投影数据和第二投影数据,第一投影数据包括待校正设备的串扰,第二投影数据为校正了待校正设备的串扰的投影数据;以第一投影数据和第二投影数据作为训练样本对,对初始辅助模型进行训练得到辅助模型,初始辅助模型包括至少一个卷积层;基于辅助模型确定至少一个卷积层对应的目标卷积核;基于目标卷积核确定待校正设备的串扰信息,待校正设备的串扰信息用于校正待校正设备的串扰。

技术领域

本申请涉及扫描设备以及计算机技术技术领域,特别涉及一种校正串扰的方法和系统。

背景技术

在射线扫描设备例如X光扫描设备、CT设备(计算机X线断层扫描设备)、PET-CT设备(正电子发射计算机断层显像设备)、激光扫描设备等设备中,探测器的像素之间会存在一定的串扰,即原本应该被某个探测单元接收到的射线光子会扩散到临近的探测单元。带有串扰的设备扫描得到的投影数据存在偏差,使得图像在组织边界处对比度下降,甚至产生伪影,影响图像的成像质量。

因此,亟需一种校正串扰的方法和系统。

发明内容

本说明书一个方面提供一种校正串扰的方法。所述方法包括:获取第一投影数据和第二投影数据,所述第一投影数据为包括待校正设备的串扰的投影数据,所述第二投影数据为对所述待校正设备的串扰进行校正后产生的投影数据;以所述第一投影数据和所述第二投影数据作为训练样本对,对初始辅助模型进行训练得到辅助模型,所述初始辅助模型包括至少一个卷积层;基于所述辅助模型确定所述至少一个卷积层对应的目标卷积核;基于所述目标卷积核确定所述待校正设备的串扰信息,所述待校正设备的所述串扰信息用于校正所述待校正设备的串扰。

本说明书另一个方面提供一种校正串扰的系统。所述系统包括:获取模块:用于获取第一投影数据和第二投影数据,所述第一投影数据为包括待校正设备的串扰的投影数据,所述第二投影数据为对所述待校正设备的串扰进行校正后产生的投影数据;模型确定模块:用于以所述第一投影数据和所述第二投影数据作为训练样本对,对初始辅助模型进行训练得到辅助模型,所述初始辅助模型包括至少一个卷积层;卷积核确定模块;用于基于所述辅助模型确定所述至少一个卷积层对应的目标卷积核;串扰确定模块:用于基于所述目标卷积核确定所述待校正设备的串扰信息,所述待校正设备的所述串扰信息用于校正所述待校正设备的串扰。

本说明书另一个方面提供一种校正串扰的装置,包括处理器,所述处理器用于执行校正串扰的方法。

本说明书另一个方面提供计算机可读存储介质,所述存储介质存储计算机指令,当计算机读取存储介质中的计算机指令后,计算机执行校正串扰的方法。

附图说明

本说明书将以示例性实施例的方式进一步说明,这些示例性实施例将通过附图进行详细描述。这些实施例并非限制性的,在这些实施例中,相同的编号表示相同的结构,其中:

图1是根据本说明书一些实施例所示的校正串扰的系统的应用场景示意图;

图2是根据本说明书的一些实施例所示的示例性校正串扰的系统的模块图;

图3是根据本说明书一些实施例所示的校正串扰的方法的示例性流程图;

图4是根据本说明书一些实施例所示的基于目标卷积核确定待校正设备的串扰信息的方法的示例性流程图;

图5是根据本说明书一些实施例所示的探测单元像素矩阵和对应的目标卷积核的示意图;

图6是根据本说明书一些实施例所示的辅助模型的结构示意图;

图7是根据本说明一些实施例所示的对设备的串扰进行校正前和校正后得到的图像示意图。

具体实施方式

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