[发明专利]一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法

说明书

本发明提供的一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法，通过获取待测器件的数字电路；在预设的仿真软件中构建表示数字电路内部连接关系的等效模型以及表示等效模型内部状态参数的过渡参数组；在等效模型能正确运行的情况下，对等效模型外加电磁脉冲干扰，以使等效模型的内部性能发生变化，获得在电磁脉冲干扰下的过渡参数组及瞬态输出电平；将过渡参数组加入未加电磁脉冲干扰的等效模型中，以使等效模型的内部性能发生变化，获得稳态输出电平；基于瞬态输出电平以及稳态输出电平，确定待测器件的性能。本发明能够更准确地得到电磁脉冲干扰下待测器件的状态。

技术领域

本发明属于电路性能分析技术领域，具体涉及一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法。

背景技术

高功率电磁脉冲对数字电路产生输出逻辑的干扰会造成电路逻辑的翻转，从而影响电子设备的内部逻辑，这将会对电子设备造成不可估量的影响。一方面由于电磁脉冲的高功率、高频率的特点，极易和数字电路工作频率相混合，另一方面由于数字电路在电磁脉冲下的失效情况复杂，难以直接通过表面观察来判断烧毁机制，对数字电路内部的瞬态分析就变得尤为重要。

现有技术经常使用Sentaurus对数字电路的内部性能进行分析，由于SentaurusSdevice中的稳态求解命令Quasistationary与瞬态求解命令Transient相互独立，电磁脉冲瞬态干扰过程中器件内部的物理状态变化无法直接输出到稳态求解器，也就无法直接观测由于瞬态干扰导致的数字电路内部的电压传输特性的衰退情况。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法。本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

本发明提供的一种电磁干扰下数字电路内部瞬态分析方法包括：

获取待测器件的数字电路；

在预设的仿真软件中构建表示数字电路内部连接关系的等效模型以及表示等效模型内部状态参数的过渡参数组；

在等效模型能正确运行的情况下，对等效模型外加电磁脉冲干扰，以使等效模型的内部性能发生变化，获得在电磁脉冲干扰下的过渡参数组及瞬态输出电平；

将过渡参数组加入未加电磁脉冲干扰的等效模型中，以使等效模型的内部性能发生变化，获得稳态输出电平；

其中，内部性能发生变化包括等效模型发生退化，等效模型发生退化表现在待测器件的载流子浓度发生变化，电磁脉冲的电磁脉宽与电磁脉冲功率之间的关系，以及电磁脉宽与电磁脉冲频率之间的关系不变；

基于瞬态输出电平以及稳态输出电平，确定待测器件的性能。

可选的，在等效模型能正确运行的情况下，对等效模型外加电磁脉冲干扰，获得在电磁脉冲干扰下的过渡参数组包括：

当等效模型能正确运行的情况下，对等效模型外加电磁脉冲干扰，在待测器件的预设采样点位置进行平均分布采样，获得该待测器件在电磁脉冲干扰下的载流子浓度；

基于载流子浓度，计算得到在电磁脉冲干扰下的过渡参数组。

可选的，过渡参数组包括：表示待测器件的导通电流大小的等效浓度参数和导通电流形成的深度参数。

可选的，基于载流子浓度，计算得到在电磁脉冲干扰下的过渡参数组包括：

基于载流子浓度，使用第一计算公式，计算得到在电磁脉冲干扰下的过渡参数组中的等效浓度参数；

第一计算公式为：