[发明专利]一种低压网电路拓扑结构检测方法及系统

权利要求书

1.一种低压网电路拓扑结构检测方法，其特征在于，包括步骤：

S1、数据采集端集合中与第一节点对应的第一数据采集端发送畸变电流信号，并将发送完成信息上报至集中处理器；

S2、若与第二节点对应的第二数据采集端接收到所述畸变电流信号，则将接收信息上报至所述集中处理器；

S3、所述集中处理器标记所述第二数据采集端为所述第一数据采集端的上级数据采集端；

S4、重复执行所述S1至所述S3，直至所述数据采集端集合中每一数据采集端都执行过一次所述S1，得到标记结果；

S5、所述集中处理器根据所述标记结果生成电路拓扑图。

2.根据权利要求1所述的一种低压网电路拓扑结构检测方法，其特征在于，所述S1之前还包括：

所述数据采集端集合接收所述集中处理器发送的广播信号，所述广播信号包括所述数据采集端集合中每一数据采集端的上报时序；

每一所述数据采集端保存自身对应的上报时序；

所述S1具体为：

数据采集端集合中与第一节点对应的第一数据采集端判断是否到达自身所保存的上报时序，若是，则发送畸变电流信号，并将发送完成信息上报至集中处理器。

3.根据权利要求1所述的一种低压网电路拓扑结构检测方法，其特征在于，所述S1还包括：

所述第一数据采集端采集其所对应的第一节点的电压量，并将所述电压量上报至所述集中处理器；

所述S5具体为：

所述集中处理器根据所述标记结果及所述电压量分别生成A、B及C三相各自对应的初始电路拓扑图；

合成所述初始电路拓扑图得到所述电路拓扑图。

4.根据权利要求1所述的一种低压网电路拓扑结构检测方法，其特征在于，每一数据采集端还包括唯一标识；

所述S3具体为：

所述集中处理器标记所述第二数据采集端为所述第一数据采集端的上级数据采集端，并存储所述上级数据采集端的第二唯一标识与所述第一数据采集端的第一唯一标识的对应关系；

若不存在所述第二数据采集端，则所述集中处理器标记所述第一数据采集端的所述上级数据采集端的数量为0；

所述S5具体为：

S51、所述集中处理器获取所述标记结果，所述标记结果包括每一待定位数据采集端的上级数据采集端数量及每一上级数据采集端的第三唯一标识；

S52、所述集中处理器根据所述上级数据采集端数量确定对应的一所述待定位数据采集端的层级，所述上级数据采集端数量越大，所述层级越低；

S53、所述集中处理器根据所述第三唯一标识及所述层级确定所述待定位数据采集端所对应的分支；

S54、所述集中处理器循环执行所述S52及所述S53，直至每一所述待定位数据采集端都获取到所述分支；

S55、所述集中处理器根据所述分支生成树状的电路拓扑图。

5.根据权利要求1所述的一种低压网电路拓扑结构检测方法，其特征在于，所述畸变电流的频率为100赫兹。

6.一种低压网电路拓扑结构检测系统，包括数据采集端集合及集中处理器，所述数据采集端集合中每一数据采集端都包括第一存储器、第一处理器及存储在所述第一存储器上并可在所述第一处理器上运行的第一计算机程序，所述集中处理器包括第二存储器、第二处理器及存储在所述第二存储器上并可在所述第二处理器上运行的第二计算机程序，其特征在于，所述第一处理器执行所述第一计算机程序时实现以下步骤：

S1、发送畸变电流信号，并将发送完成信息上报至集中处理器；

S2、若接收到所述畸变电流信号，则将接收信息上报至所述集中处理器；

所述第二处理器执行所述第二计算机程序时实现S3及S5：

S3、标记所述第二数据采集端为所述第一数据采集端的上级数据采集端；

S4、重复执行所述S1至所述S3，直至所述数据采集端集合中每一数据采集端都执行过一次所述S1，得到标记结果；

S5、根据所述标记结果生成电路拓扑图。