[发明专利]一种集成电子器件的稳定性测试装置及其测试方法

说明书

本发明公开了一种集成电子器件的稳定性测试装置及其测试方法，属于集成电子器件稳定性测试技术领域。一种集成电子器件的稳定性测试装置，包括检测箱，还包括：隔板，固定于所述检测箱中，其中所述隔板开有渗水口，所述检测箱底端开有通道；第一转柱，安装于所述隔板正中间；测试平台，固定于所述第一转柱上端，其中所述测试平台上均等分安装有测试用的稳定结构；温控回转机构，设于所述测试平台上方，其中所述温控回转机构连接有动力机构；清洗机构，安装在所述检测箱外侧。该装置能够对集成电子器件进行多方位、多工况进行稳定性测试，相比普通测试设备更加灵活多变，组合效应强，更加接近实际复杂的运行环境。

技术领域

本发明涉及集成电子器件稳定性测试技术领域，尤其涉及一种集成电子器件的稳定性测试装置。

背景技术

电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称。常见的有二极管等。把多个电子元器件通过特定组合连接在一起，也就产生了集成电子器件。

集成电子器件不同于单个电子元器件，集成电子器件是一个功能单元，整体呈现的功能受到很多因素的影响而会产生稳定性问题，比如集成电子器件内部零件局部损坏影响稳定，外部磁场、温度、碰撞、水、腐蚀等都是影响其稳定运行的因素。所以在出厂前需要模拟外部运行工况来测试稳定性，这样方便改良设计，后期也容易查找损坏原因，方便维修。

但是目前用于测试的稳定性测试装置，不能进行多方位、多工况进行稳定性测试，普通测试设备不灵活，且笨重，没有组合测试，没有接近实际复杂的运行环境，测试往往流于形式，不利于生产生活。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中目前目前用于测试的稳定性测试装置，不能进行多方位、多工况进行稳定性测试，普通测试设备不灵活，且笨重，没有组合测试，没有接近实际复杂的运行环境，测试往往流于形式，不利于生产生活的问题，而提出的一种集成电子器件的稳定性测试装置及其测试方法。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种集成电子器件的稳定性测试装置，包括检测箱，还包括：隔板，固定于所述检测箱中，其中所述隔板开有渗水口，所述检测箱底端开有通道；第一转柱，安装于所述隔板正中间；测试平台，固定于所述第一转柱上端，其中所述测试平台上均等分安装有测试用的稳定结构；温控回转机构，设于所述测试平台上方，其中所述温控回转机构连接有动力机构；清洗机构，安装在所述检测箱外侧。

优选的，所述稳定结构为可替换部件，所述稳定结构包括有夹紧机构，所述夹紧机构包括第一伸缩杆，所述第一伸缩杆铰接第一连接板，所述第一连接板铰接第二连接板，所述第二连接板侧面固定有横向夹板，所述第二连接板端头设有铰接柱，所述铰接柱和第一伸缩杆均固定于测试平台上。

优选的，所述稳定结构包括晃动机构，所述晃动机构包括矩形盒，所述矩形盒内安装有压紧板，所述矩形盒固定有挡板，所述挡板连接第一弹簧，所述第一弹簧连接推板，所述推板上固定有集成电子器件，十字型的所述矩形盒中心设有传感器，所述传感器连接有压力感应探头。

优选的，所述压紧板包括滑动柱，所述滑动柱底端固定卡板，所述滑动柱上端固定镇压板，所述滑动柱上套有第二弹簧，所述滑动柱外侧设有带开口的筒。

优选的，所述温控回转机构包括呈三角分布的三个第二转柱，所述第二转柱上端固定有第一转动板，所述第一转动板铰接有第二转动板，三个所述第二转动板中心固定有套筒，所述套筒内设有三脚架，所述三脚架中心固定有第二伸缩杆，所述第二伸缩杆底端固定连接打光板，所述打光板上设有若干均匀分布的激光热源灯。

优选的，三个所述第二转动板的斜向安装角度相同，所述打光板的直径为测试平台直径的一半，所述打光板的圆心移动位置为测试平台的二分之一半径圈上。