[发明专利]纳米孔测序电路、测序方法及装置

权利要求书

1.一种纳米孔测序电路，其特征在于，包括：

采集单元，电连接纳米孔测序通道，用于采集所述纳米孔测序通道中产生的第一电信号；

周期采样单元，其输入端电连接所述采集单元，用于周期性采样所述第一电信号；

复位限流单元，用于在所述周期采样单元完成一个周期采样并复位时，限制所述周期采样单元内部电信号施加在所述纳米孔测序通道的第二电信号；

所述周期采样单元包括运算放大器、积分电容以及复位开关；所述运算放大器与积分电容用于周期性积分采样所述第一电信号，所述复位开关用于在所述周期采样单元完成一个周期采样后电路复位；

所述复位限流单元包括限流元件或限流结构。

2.根据权利要求1所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述周期采样单元中，

所述运算放大器的同相输入端用于接入偏置电压；

所述运算放大器的反相输入端电连接所述采集单元，且所述积分电容电连接在所述运算放大器的反相输入端与输出端之间，所述积分电容与所述复位开关并联。

3.根据权利要求2所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述复位限流单元包括第一限流元件，所述第一限流元件串联在所述复位开关所在的支路上。

4.根据权利要求2所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述复位限流单元包括第二限流元件，所述第二限流元件串联在所述周期采样单元的输出端。

5.根据权利要求2所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述复位限流单元包括第三限流元件，所述第三限流元件串联在所述采集单元与所述周期采样单元的输入端之间。

6.根据权利要求2所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述复位限流单元包括限流结构，所述限流结构设置在所述复位开关内部，用于增大复位开关的内阻。

7.根据权利要求1所述的纳米孔测序电路，其特征在于，所述采集单元为感测电极。

8.一种纳米孔测序方法，通过权利要求1-7任一项所述的纳米孔测序电路实现，其特征在于，包括：

通过采集单元，接收所述纳米孔测序通道中产生的第一电信号；

通过周期采样单元周期性采样所述第一电信号；

在所述周期采样单元完成一个周期采样后，进行复位放电。

9.一种测序装置，其特征在于，包括纳米孔测序电路，所述纳米孔测序电路为包含权利要求1-7任一项所述的纳米孔测序电路。