[发明专利]一种表面裂纹走向的双激励检测方法

权利要求书

1.一种表面裂纹走向的双激励检测方法，利用双激励传感器在待测件表面形成随时间旋转的涡流场，利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向，其特征在于：

在待测件表面建立二维直角坐标系，双激励传感器的扫查路径始终沿着X轴正向，提取待测件表面XY两轴磁场畸变信息ΔB_xm、ΔB_ym，旋转磁场下裂纹方向为：

β＝arctan(ΔB_ym/ΔB_xm)

其中，β为裂纹与X轴正向夹角，ΔB_xm＝B_xmin-B₀，ΔB_ym＝B_ymin-B₀，B₀为不存在裂纹时的磁场信号幅值，B_xmin、B_ymin为对应坐标分量的磁场波谷信号最小幅值。

2.如权利要求1所述的一种表面裂纹走向的双激励检测方法，其特征在于，所述提取待测件表面XY两轴磁场畸变信息ΔB_xm、ΔB_ym，为提取所述待测试件表面上方提离为1mm处的磁场幅值变化信息。

3.如权利要求1所述的一种表面裂纹走向的双激励检测方法，其特征在于，所述检测方法适用于不锈钢待测件。

4.如权利要求2所述的一种表面裂纹走向的双激励检测方法，其特征在于，所述方法适用于长度小于等于20mm的裂纹的走向检测。

5.如权利要求1-4任一所述的一种表面裂纹走向的双激励检测方法，其特征在于，测量B_xmin、B_ymin时，采用锁相放大的信号处理方法，以滤除信号中的噪声信号。

6.如权利要求1-4任一所述的一种表面裂纹走向的双激励检测方法，其特征在于，在所述利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向之前，还包括裂纹有无的检测判断，具体如下：

根据ACFM检测技术的正演模型理论，双U型线圈下X、Y方向磁场幅值随探头移动的表达公式如下：

式中，d为裂纹深度，β为潜在裂纹的走向与扫查路径的夹角，和分别是E_inc，x(x，0)、E_inc，y(x，0)的一维傅里叶变换，E_inc，x(α，0)、E_inc，y(α，0)是裂纹区域x、y方向上的电场分量，X是x对应的空间频率分量；

根据实施所述表面裂纹走向的双激励检测方法的检测设备确定检测参数，d取在检测过程中待测件允许出现的最小裂纹深度为，将检测参数和最小裂纹深度代入上述ACFM正演模型，用将正演模型和有限元分析结合的方法计算在检测过程中允许出现的最小裂纹深度引起的磁场电压B_rmin＝B_xmin+B_ymin；当检测过程中出现大于B_rmin的幅值变化时，再利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向。