[发明专利]一种自润滑难熔高熵合金薄膜及其制备方法有效
申请号: | 202110400712.2 | 申请日: | 2021-04-14 |
公开(公告)号: | CN113106408B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 周青;罗大微;黄卓斌;刘世豪;陈自强;王海丰 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/18 |
代理公司: | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人: | 徐云侠 |
地址: | 710072 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 润滑 难熔高熵 合金 薄膜 及其 制备 方法 | ||
1.一种自润滑难熔高熵合金薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:采用磁控溅射技术先在硅基体上镀一层NbMoWTa层,再以所述NbMoWTa层作为生长模板,交替沉积Ag层与NbMoWTa层形成NbMoWTa/Ag纳米多层膜,且最顶层为NbMoWTa层;
所述NbMoWTa层采用直流电源溅射,直流脉冲电源功率为100W,基片偏压为-80V;所述Ag层采用射频电源溅射,射频电源功率为80W,基片偏压为-80V;
所述NbMoWTa/Ag纳米多层膜中NbMoWTa层与Ag层的单层厚度均为2.0nm;所述Ag层与所述NbMoWTa层的总层数为710-730层。
2.根据权利要求1所述的自润滑难熔高熵合金薄膜的制备方法,其特征在于,所述磁控溅射技术中沉积速率为NbMoWTa层0.120-0.125nm/s、Ag层0.310-0.315nm/s。
3.根据权利要求2所述的自润滑难熔高熵合金薄膜的制备方法,其特征在于,所述磁控溅射技术中沉积速率为NbMoWTa层0.123nm/s、Ag层0.312nm/s。
4.根据权利要求1所述的自润滑难熔高熵合金薄膜的制备方法,其特征在于,所述硅基体采用清洗后的单面抛光单晶硅基片。
5.根据权利要求1所述的自润滑难熔高熵合金薄膜的制备方法,其特征在于,所述磁控溅射技术是采用高纯Ar作为离化气体。
6.一种根据权利要求1-5任一项所述的方法制备得到的自润滑难熔高熵合金薄膜。
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