[发明专利]航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法有效
申请号: | 202110394974.2 | 申请日: | 2021-04-13 |
公开(公告)号: | CN112949094B | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 陈颖;王艳芳;初巧慧;康锐 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06F111/04;G06F111/08;G06F119/02;G06F119/14 |
代理公司: | 北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙) 11474 | 代理人: | 王冬杰 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 航空 电子产品 电磁 性能 分析 确信 可靠性 评估 方法 | ||
1.一种航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法,其特征在于,其包括以下步骤:
S1、系统分析,明确航空电子产品功能结构、系统逻辑关系以及周围电磁环境,获得航空电子产品受到的电磁环境应力;
S2、确定航空电子产品的电磁关键性能参数及其阈值;
S3、确定航空电子产品的薄弱环节因素,所述步骤S3具体包括以下步骤:
S31、采集航空电子产品中器件的工作频率fi,其中i=1...n,所述器件的工作频率包括CPU工作频率、晶振、电路时钟和继电器工作频率;
S32、对航空电子产品进行电磁仿真中的本征模仿真和电磁屏蔽效能仿真,得到航空电子产品的一阶电磁谐振频率fr及航空电子产品在电磁谐振频率下的各位置处的电场强度以及在电磁环境下的响应情况;
S33:确定电磁谐振频率影响程度,将航空电子产品的工作频率fi与步骤S32获得的一阶电磁谐振频率fr进行比较,若0.5frfi2fr则确定为电磁谐振频率受到影响的区域;
S34:确定关键元器件,对所述器件进行分析,确定关键度因子,将所述器件中关键度因子的相对值高的器件确定为关键元器件,所述关键度因子的表达式为:
其中:IF表示器件关键度因子;αfi表示器件的功能重要度因子;αes表示电磁敏感度因子;Eer表示器件在电磁谐振频率下的电场强度;β表示备用器件数量;
S35:根据航空电子产品的电磁屏蔽效能仿真结果确定薄弱环节因素,将仿真得到的关键元器件位置处的电磁屏蔽效能结果记为SE(Key_cmp),若SE(Key_cmp)-SEth≤20dB,则将所述关键元器件确定为航空电子产品的薄弱环节因素,其中SEth为航空电子产品的电磁屏蔽效能的阈值;
S4、建立考虑内外因参数不确定性的性能裕量模型:通过量化内外因参数对关键性能参数的影响,建立性能裕量模型;
S5、进行确信可靠性评估,计算确信可靠度,所述步骤S5具体包括以下步骤:
S51、获得性能裕量模型中具有不确定性的内外因参数分布及分布参数;
S52、根据所获得的内外因参数分布,利用蒙特卡洛仿真得不确定参数的不同取值、并利用电磁性能裕量方程计算得到不同取值下的电磁性能裕量;
S53、计算得到考虑参数不确定性的确信可靠度,计算表达式为:
其中:NUM表示总仿真次数;NUMM>0表示性能裕量M>0的次数。
2.根据权利要求1所述的航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法,其特征在于,所述步骤S2具体包括以下步骤:
S21、确定电磁关键性能参数:将电磁关键性能参数确定为与系统关键功能直接相关的电磁参数;或将电磁关键性能参数确定为与系统中关键元器件相关的电磁参数;或对于有屏蔽体的航空电子产品,将电磁关键性能参数确定为关键位置处的电磁屏蔽效能;
S22、对电磁关键性能参数进行分析:确定电磁关键性能参数为望大型、望小型或望目型。
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