[发明专利]一种不稳定像元确定方法、装置、设备和介质

说明书

本发明公开了一种不稳定像元确定方法、装置、设备和介质，由于在高速变化的场景中，存在温度高的目标离开或进入图像采集区域，图像采集区域的温度变化迅速，采集第一温度挡片遮挡镜头时的第一图像，以及第二温度挡片遮挡镜头时的第二图像；根据第一图像以及第二图像，确定第一差值图像，由于高速变化的场景中响应时间异常的不稳定像元在第一差值图像中对应像素点的像素值与相邻区域像素点的像素值的差值较大，因此针对第一差值图像中每个第一差值像素点，确定该第一差值像素点与设定区域范围的第二差值像素点的像素差值；根据每个第一差值像素点对应的最小像素差值，以及预设的第一阈值，确定出不稳定像元。

技术领域

本发明涉及热成像红外探测器盲元检测技术领域，尤其涉及一种不稳定像元确定方法、装置、设备和介质。

背景技术

红外焦平面阵列探测器的标准GB/T 17444-2013中关于盲元的性能指标盲元包括：死像元和过热像元。现有技术中基于积分时间调整的红外焦平面阵列盲元检测方法中，记录不同积分时长下像元响应的输出值；在红外成像系统动态响应为线性的区间内，连续取多个积分时间下像元响应的平均灰度值作为对应像元的响应率；根据像元的响应率判定有效像元和盲元，定位并记录盲元，但该方法中只能检测出死像元和过热像元这两类盲元。

但是现有技术中的盲元还包括响应异常的不稳定像元，不稳定像元包括在开机工作时响应异常的像元、在不同温度环境中响应异常的像元、以及高速变化的场景中响应时间异常的像元。

开机工作时响应异常的像元是指，在红外焦平面探测器开机瞬间，低频噪声和响应率随工作状态发生变化的像元；在不同温度环境中响应异常的像元是指，对于无温控的红外焦平面阵列而言，不同环境温度下像元的响应率的变化对盲元有很大影响，即在一种环境温度下响应率处于正常范围的像元，在其他环境温度下可能响应率处于不正常范围，成为新的盲元；而高速变化的场景中响应时间异常的像元是指，在静止场景中表现为正常像元，但是在快速变化的场景中，由于其响应时间远大于其它正常像元，导致其无法及时跟随场景变化的像元。

而现有技术中的对盲元进行检测的方法中，基于红外焦平面探测器对着不同的背景温度，在每个背景温度下，采集n次开机工作的红外焦平面探测器成像的原始图像数据，通过滑窗方式遍历每组原始图像数据中每帧图像面阵的所有像素点，得到每组原始图像数据中的不稳定像元列表，从而实现了对开机工作时响应异常的像元的检测；基于所获得的目标图像，计算所述红外焦平面阵列所对应的参考数据；基于红外焦平面阵列所对应的参考数据，确定红外焦平面阵列中的盲元，从而实现了对不同温度环境中响应异常的像元的检测。

但是现有技术中的盲元还包括高速变化的场景中响应时间异常的像元，图1为现有技术提供的一种不同像元在不同温度和时间下的响应值的示意图，如图1所示，图1中的①②③④分别代表4种不同像元对不同温度和时间下的输出响应，①代表过热像元，无论在温度T1和T2下的输出均在较高水平；②代表正常像元，在响应时间内温度从T1变化到T2时，其响应输出从较低水平变化到较高水平；③代表不稳定像元，当温度从T1变化到T2时，在响应时间内并不能达到输出的最大值，在经过长时间稳定后才能达到输出最大值，这类像元在使用现有技术中的盲元检测方法时，由于都是经过长时间稳定之后采集图像进行处理的，这种不稳定像元就无法被检测到，因为经过长时间稳定后，这种不稳定像元与正常像元没有明显差别。④代表死像元，无论在温度T1和T2下的输出均在较低水平；现有技术中的盲元识别方法对这类不稳定像元是无法识别的，从而导致在高速追踪和目标识别中会产生干扰和误判，因此如何确定高速变化的场景中响应时间异常的不稳定像元就成为亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供了一种不稳定像元确定方法、装置、设备和介质，用以确定高速变化的场景中响应时间异常的不稳定像元。

本发明提供了一种不稳定像元确定方法，所述方法包括：

采集第一温度挡片遮挡镜头时的第一图像，以及第二温度挡片遮挡镜头时的第二图像；