[发明专利]一种气体放电管寿命检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110391559.1 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN112946446A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 陈润垣;魏天魁 申请(专利权)人: 上海雷迅防雷技术有限公司
主分类号: G01R31/24 分类号: G01R31/24
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 王晶;胡晶
地址: 200120 上海市浦东新区中国(上海)*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 气体 放电 寿命 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种气体放电管寿命检测装置,其特征在于,包括:光采集电路、控制电路;光采集电路与控制电路连接;其中:

光采集电路,用于采集气体放电管受到雷击时发出的光强信号,并将其转换为控制电路可采集的电信号;

控制电路,用于对所述光采集电路产生的电信号进行处理,进而获得所述气体放电管的雷击次数以及雷击电流数值。

2.如权利要求l所述的装置,其特征在于,所述光采集电路包括:光敏二极管Dl,第一电阻Rl、第二电阻R2、三极管Q1、第三电阻R3;其中:

D1的阳极分别连接R2的第一端、Q1的基极;D1的阴极分别连接R1的第二端、控制电路;Q1的集电极连接R3的第二端、控制电路;Q1的发射极接地;R1的第一端连接第一电源;R2的第二端接地;R3的第一端连接第二电源。

3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述控制电路包括:信号放大子电路、单片机;其中:

光敏二极管D1的阴极连接所述信号放大子电路;所述信号放大子电路与单片机的AD口连接;所述三极管Q1的集电极与单片机的I/O口连接;

信号放大子电路获得光敏二极管D1的电压模拟信号并对其进行放大后,供单片机进行AD采集;

单片机通过I/O口的信号输入,计算气体放电管的雷击次数;单片机通过AD口的信号输入,采集气体放电管在受雷电冲击时的电压数值变化,进而判定雷击电流大小;且单片机通过统计所述气体放电管受雷电冲击的次数及流过的雷击电流大小,判定气体放电管的劣化程度。

4.如权利要求3所述的装置,其特征在于,所述信号放大子电路进一步包括:

第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第一运算放大器AMP1、第二运算放大器AMP2;其中:

R4的第一端连接R1的第二端;R4的第二端分别连接AMPl的负输入端、R6的第一端;R5的第一端连接AMP1的正输入端,R5的第二端接地;R6的第二端分别连接AMP1的输出端、AMP2的负输入端;AMP2的正输入端分别连接AMP2的输出端、R7的第一端;R7的第二端分别连接单片机的AD口、R8的第一端;R8的第二端接地。

5.如权利要求3任意一项所述的装置,其特征在于,还包括:显示单元,其与所述控制电路连接;显示单元用于显示雷击的次数、雷击时间、雷击电流数值、气体放电管的劣化程度。

6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述显示单元包括:PC机;所述单片机与PC机连接。

7.一种气体放电管寿命检测方法,其特征在于,应用于如权利要求l至6任意一项所述的装置,包括如下步骤:

S1:气体发电管受到雷电冲击;

S2:D1导通,Q1导通;产生两路信号,分别至单片机的AD口、I/O口;

S3:单片机通过I/O口输入计算雷击次数;

S4:单片机通过AD口的信号输入,采集气体放电管在受雷电冲击时的电压数值变化,进而判定雷击电流大小;且单片机通过统计所述气体放电管受雷电冲击的次数及流过的雷击电流大小,判定气体放电管的劣化程度;

S5:单片机将雷击次数、雷击电流、雷击时间、气体放电管的劣化程度的信息发送给PC机进行显示。

8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,在步骤S4之前,还包括如下步骤:

预先获得气体放电管在受雷电冲击时的电压数值与雷击电流的数值之间的关系。

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