[发明专利]一种测试介质生成方法、系统及介质

说明书

本发明公开了一种测试介质生成方法，包括以下步骤：获取控制器触发信息，基于所述控制器触发信息判断用户需求；配置格式标准和键入信息范围，基于所述用户需求、所述格式标准和所述键入信息范围获取协议配置命令或脉冲配置数据；引入控制单元，基于所述控制单元以及所述协议配置命令或所述脉冲配置数据获取第一测试介质或第二测试介质；本发明能够生成一套完整的介质产生架构，可以通过该架构生成多种不同类型的测试信号或协议，以满足研发人员的工作需求，极大的提高了研发人员工作效率，且普适性和延展性极强。

技术领域

本发明涉及服务器信号调制技术领域，特别是涉及一种测试介质生成方法、系统及介质。

背景技术

在服务器的开发过程中，研发人员需要对服务器进行调试，在调试过程中，研发人员需要通过不同类型的测试信号，进而获取服务器上不同设备或部件的测试反馈信息。

现有技术中，对于一些协议或信号有独立的产生装置或电路，但没有将各个信号和协议整合到一起的产生架构，故每次研发人员进行测试时，需要配备多个设备或者搭建多个电路，进而产生不同类型的信号，这种方法的便利性较差，成本较高，因没有完整的架构，故在面对大批量的服务器开发时，会降低研发人员的工作效率以及服务器开发过程的进度。

发明内容

本发明主要解决的是现有技术中没有将各个信号和协议整合到一起的产生架构，导致服务器开发过程的成本较高，研发人员工作难度较大以及工作效率较低的问题。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种测试介质生成方法，包括以下步骤：

获取控制器触发信息，基于所述控制器触发信息判断用户需求；

配置格式标准和键入信息范围，基于所述用户需求、所述格式标准和所述键入信息范围获取协议配置命令或脉冲配置数据；

引入控制单元，基于所述控制单元以及所述协议配置命令或所述脉冲配置数据获取第一测试介质或第二测试介质。

作为一种改进方案，所述基于所述控制单元以及所述协议配置命令或所述脉冲配置数据获取第一测试介质或第二测试介质的步骤进一步包括；

基于所述控制单元和所述协议配置命令执行第一介质生成步骤，得到所述第一测试介质；

基于所述控制单元和所述脉冲配置数据执行第二介质生成步骤，得到所述第二测试介质。

作为一种改进方案，所述第一介质生成步骤包括：

提取所述协议配置命令中的操作标识数据；

识别所述操作标识数据的操作类别；

基于所述控制单元和所述操作类别获取所述第一测试介质。

作为一种改进方案，所述基于所述控制单元和所述操作类别获取所述第一测试介质的步骤进一步包括：

若所述操作类别为写入类，则通过所述控制单元提取所述协议配置命令中的待存取数据、第一数据地址和第一存放地址，并将所述待存取数据和所述第一数据地址写入所述第一存放地址所链接的存取端；

若所述操作类别为读取类，则通过所述控制单元提取所述协议配置命令中的第二数据地址和第二存放地址，并提取所述第二存放地址所链接的存取端中与所述第二数据地址对应的待打印数据；通过所述控制单元将所述待打印数据打印，得到所述第一测试介质。

作为一种改进方案，所述第二介质生成步骤包括：

获取第一控制器键入信息和脉冲端口状态；

基于所述第一控制器键入信息、所述脉冲端口状态、所述脉冲配置数据和所述控制单元输出脉冲信号；

设定所述脉冲信号为所述第二测试介质。