[发明专利]一种-40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法

说明书

本发明公开了一种‑40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入TO；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；所述步骤二中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个PCS TO同时供电，本发明相较于现有的批量测试的供电方法，将供电系统与测试系统分离，确保供电系统能够工作在稳定环境下，确保了供电系统不受烘箱温度变化的影响，为测试系统提供稳定的电流，本发明使用子板形式给被测器件供电，每个子板提供多个插座，一次性可以为多个PCS TO同时供电，实现批量测试，大大提高了测试的效率，供电母板带有插座，便于子模块插拔更换测试。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种-40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法。

背景技术

DML的激光器，由于没有TEC稳定LD芯片的温度，而LD芯片的发光特性随温度变化而变化，同时波长也会睡着波长的变化而变化，为了满足特定的需求，在LD的工作范围内，需要确保LD的发光效率，LD的发光线性特性，监控二极管的功率稳定性以及波长的变化范围必须满足对应模块级别的应用标准，所以需要对LD进行高低温的测量，而当前的激光器，主要用于工业级，所以需要在-40℃-85℃温度环境下，能够为测试TO正常供电，供电系统如果也放入烘箱内，则设计成本变高，设备老化快，同时工作状态也会受温度的影响。

发明内容

本发明的目的在于提供一种-40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种-40℃到85℃环境下TO56_TO38批量测试的供电方法，包括以下步骤：步骤一，设备检查；步骤二，插入TO；步骤三，子板测试；步骤四，更换测试；步骤五，不同温度测试；步骤六，完成测试；

其中在上述步骤一中，设备检查包括以下步骤：

1）供电系统连接外部电源，使供电母板通电；

2）启动所有设备，运行软件；

3）检查设备是否处于正常工作状态；

4）对设备的异常状态进行分析处理，使之恢复正常；

5）设置设备的工作参数；

其中在上述步骤二中，将待测TO插入子板上的插座中；

其中在上述步骤三中，将子板的安装在母板上，开始为TO供电；

其中在上述步骤四中，更换测试包括以下步骤：

1）进行64PCSTO测试；

2）测试完成后，打开恒温箱，拔下母板上的子板；

3）将另一个装了TO的子板插入母板的连接器上进行测试，如此循环更换测试；

其中在上述步骤五中，温度测试包括以下步骤：

1）待一个温度点测试完成后，设置恒温箱的温度为下一个温度点；

2）待恒温箱温度稳定后进行当前温度下的测试；

其中在上述步骤六中，完成测试包括以下步骤：

1）待完成所有温度点的测试后将恒温箱恢复到常温；

2）取出测试完成的产品。

优选的，所述步骤一1）中，外部电源为220V，供电系统设置于恒温箱的外部，供电母板设置于恒温箱的内部，且供电母板与供电系统通过导线连接。

优选的，所述步骤一3）中，正常的工作状态包括供电系统供电稳定、恒温箱温度稳定和测试软件运行正常。

优选的，所述步骤二中，子板上设置有64个插座，一次性可以为64个PCS TO同时供电。

优选的，所述步骤三中，子板通过金手指与母板的连接器进行插接。

优选的，所述步骤六2）中，取出测试完成的产品后，需关闭设备，断开供电系统与外部电源之间的连接。