[发明专利]一种双侧斐索干涉仪检测装置有效

专利信息
申请号: 202110383929.7 申请日: 2021-04-09
公开(公告)号: CN113203357B 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 魏相宇;唐锋;卢云君;郭福东;王向朝;陈梦来 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司
主分类号: G01B9/02015 分类号: G01B9/02015;G01B11/24
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 双侧斐索 干涉仪 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种双侧斐索干涉仪检测装置,包括共光路且相对放置的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3),以及参考面平行的第一标准镜(4)和第二标准镜(6);所述的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)出射光传播路径一致,方向相反,所述的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)均包括沿光轴依次设置的点光源、分束器(203)和准直镜(205),以及光阑(206)和探测器(208);其特征在于:所述的点光源位于准直镜(205)的焦面非焦点处,使点光源依次经分束器(203)和准直镜(205)透射的出射光与所述的光轴具有夹角,进而使经所述的第一干涉仪主机(2)进入第二干涉仪主机(3)的光线汇聚在第二干涉仪主机(3)的光阑(206)的遮光区,不射入该第二干涉仪主机(3)的探测器(208);同样,经所述的第二干涉仪主机(3)出射并进入第一干涉仪主机(2)的光线,汇聚在第一干涉仪主机(2)的光阑(206)的遮光区,不射入该第一干涉仪主机(2)的探测器(208)。

2.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的点光源为光源输出光经光纤光路传播,经成像透镜组(202)聚焦后的聚焦点,或者所述的点光源为光纤端面本身。

3.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的分束器(203)是偏振分束器。

4.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,还包括用于给第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)提供光源的光源模块(1)。

5.根据权利要求4所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的光源模块(1)包括光源(101)和光源分束器(102),所述的光源输出光通过单模光纤传输,经光源分束器(102)分为两路,分别输入至第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)。

6.根据权利要求1~5任一所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的光源(101)是波长可调谐激光器;输出的两路光均为线偏振光,输入至各干涉仪主机后,分别经过干涉仪内部的可调谐衰减器(201)、分束器(203)后经准直镜(205)准直入射到标准镜(4)上,其中,一部分光在标准镜参考面(4)处被反射,另一部分被透射,经被测非透明平面(5)反射的光构成系统的测量光束,经参考面反射的光构成系统的参考光束,所述的标准镜参考面为标准镜的后表面;所述的可调衰减器(201)实现光强比例可调。

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