[发明专利]一种双侧斐索干涉仪检测装置有效
申请号: | 202110383929.7 | 申请日: | 2021-04-09 |
公开(公告)号: | CN113203357B | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 魏相宇;唐锋;卢云君;郭福东;王向朝;陈梦来 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司 |
主分类号: | G01B9/02015 | 分类号: | G01B9/02015;G01B11/24 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双侧斐索 干涉仪 检测 装置 | ||
1.一种双侧斐索干涉仪检测装置,包括共光路且相对放置的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3),以及参考面平行的第一标准镜(4)和第二标准镜(6);所述的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)出射光传播路径一致,方向相反,所述的第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)均包括沿光轴依次设置的点光源、分束器(203)和准直镜(205),以及光阑(206)和探测器(208);其特征在于:所述的点光源位于准直镜(205)的焦面非焦点处,使点光源依次经分束器(203)和准直镜(205)透射的出射光与所述的光轴具有夹角,进而使经所述的第一干涉仪主机(2)进入第二干涉仪主机(3)的光线汇聚在第二干涉仪主机(3)的光阑(206)的遮光区,不射入该第二干涉仪主机(3)的探测器(208);同样,经所述的第二干涉仪主机(3)出射并进入第一干涉仪主机(2)的光线,汇聚在第一干涉仪主机(2)的光阑(206)的遮光区,不射入该第一干涉仪主机(2)的探测器(208)。
2.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的点光源为光源输出光经光纤光路传播,经成像透镜组(202)聚焦后的聚焦点,或者所述的点光源为光纤端面本身。
3.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的分束器(203)是偏振分束器。
4.根据权利要求1所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,还包括用于给第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)提供光源的光源模块(1)。
5.根据权利要求4所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的光源模块(1)包括光源(101)和光源分束器(102),所述的光源输出光通过单模光纤传输,经光源分束器(102)分为两路,分别输入至第一干涉仪主机(2)和第二干涉仪主机(3)。
6.根据权利要求1~5任一所述的双侧斐索干涉仪检测装置,其特征在于,所述的光源(101)是波长可调谐激光器;输出的两路光均为线偏振光,输入至各干涉仪主机后,分别经过干涉仪内部的可调谐衰减器(201)、分束器(203)后经准直镜(205)准直入射到标准镜(4)上,其中,一部分光在标准镜参考面(4)处被反射,另一部分被透射,经被测非透明平面(5)反射的光构成系统的测量光束,经参考面反射的光构成系统的参考光束,所述的标准镜参考面为标准镜的后表面;所述的可调衰减器(201)实现光强比例可调。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司,未经中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110383929.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高效的海洋溢油处理装置及其使用方法
- 下一篇:一种防止试管松动的紧锢装置