[发明专利]陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法

权利要求书

1.一种陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

将陶瓷原料磨碎，过筛，与水混合，添加碳酸钡粉末，然后烧制成多个校正样品试片，多个所述校正样品试片的厚度不同且碳酸钡添加的百分含量相同；

采用能量色散X射线荧光光谱法对每个所述校正样品试片的钡元素总含量进行测试，得到每个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量；

根据多个所述校正样品试片的厚度、多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量以及多个所述校正样品试片经湿式化学分析获得的真实总含量，建立钡含量的测试误差值与样品厚度的校正函数；

采用所述能量色散X射线荧光光谱法对待测样品进行测试，得到所述待测样品的钡元素的初始测试含量C₁；

测量待测样品的厚度l，将l带入所述校正函数计算所述钡含量的测试误差值，根据所述钡含量的测试误差值与C₁计算所述待测样品中的钡元素的含量C₂。

2.根据权利要求1所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，所述校正函数包括一组校正函数和二组校正函数，建立所述校正函数包括如下步骤：

根据多个所述校正样品试片经湿式化学分析获得的真实总含量和多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量，确定最佳厚度l_m，以及厚度为l_m的校正样品试片的钡元素的测试含量C_m；

基于l_m，将多个所述校正样品试片分成一组和二组：一组为所述校正样品试片的厚度大于l_m的校正样品试片组，二组为所述校正样品试片的厚度小于l_m的校正样品试片组；

根据一组的校正样品试片的厚度与l_m的差值，以及多个所述校正样品试片的钡元素的测试含量与C_m的差值，建立钡含量的测试误差值与待测样品厚度的一组校正函数；

根据二组的校正样品试片的厚度与l_m的差值，以及多个所述校正样品试片的钡元素的测试含量与C_m的差值，建立钡含量的测试误差值与待测样品厚度的二组校正函数。

3.根据权利要求2所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，l＞l_m，C₂＝C₁-y₁。

4.根据权利要求2所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，l＜l_m，C₂＝C₁+y₂。

5.根据权利要求1～4任一项所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，采用能量色散X射线荧光光谱法对每个所述校正样品试片的钡元素总含量进行测试包括如下步骤：

制备多个标准样品试片，多个所述标准样品试片的碳酸钡添加的百分含量不同且厚度相同；

取多个所述标准样品试片，进行能量色散X射线荧光光谱测定，根据多个所述标准样品试片的钡元素的百分含量和多个所述标准样品试片的计数值，建立钡元素的百分含量与计数值的关系函数；

取多个所述校正样品试片，进行能量色散X射线荧光光谱测定，获得多个所述校正样品试片的计数值，带入所述关系函数计算多个所述校正样品试片的钡元素的测试总含量。

6.根据权利要求5所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，多个所述标准样品试片的碳酸钡添加的百分含量选自0.1％～0.5％。

7.根据权利要求5所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，多个所述标准样品试片的厚度选自1mm～20mm。

8.根据权利要求1～4任一项所述的陶瓷制品中钡元素含量的无损检测方法，其特征在于，所述陶瓷制品的原料为紫砂原矿。