[发明专利]一种加速器X射线能量检测方法在审
申请号: | 202110373579.6 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN113009547A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 查皓;施嘉儒;李岸;陈怀璧 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01T1/185 | 分类号: | G01T1/185 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 罗文群 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加速器 射线 能量 检测 方法 | ||
1.一种加速器X射线能量检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:首先构建一个用于测量加速器X射线能量的多电离室腔体阵列;利用蒙特卡洛方法进行标定,得到各剂量增强腔与参考腔的能量沉积比与X射线能量关系曲线;实验测量待测X射线入射各腔后的静电计读数之比,进而根据标定的能量沉积比与X射线能量关系曲线,得到待测X射线的能量。
2.一种加速器X射线能量检测方法,其特征在于该方法包括以下步骤:
(1)构建一个用于测量加速器X射线能量的多电离室腔体阵列,该多电离室腔体阵列由一个参考电离室腔体和多个剂量增强电离室腔体构成;
(2)利用蒙特卡洛方法,分别计算多电离室腔体阵列中的多个剂量增强腔与参考腔R在设定能量Ej的X射线照射后的能量沉积比,将能量沉积比记为其中,i为剂量增强腔的序号,r为参考腔,D为对应腔的静电计读数;
(3)改变上述X射线的设定能量Ej,重复步骤(2),得到M组能量沉积比{αi}M,进而得到标定的沉积比{αi}M与X射线能量{E}M的关系曲线;
(4)使待测X射线从窗入射步骤(1)所述的参考腔及所有剂量增强腔,得到第一静电计读数Dr和所有剂量增强静电计的读数{Di},进而计算得到能量沉积比{αi};
(5)根据步骤(4)计算得到的能量沉积比{αi},利用步骤(3)中标定的沉积比与X射线能量的关系曲线,得到待测X射线的能量。
3.如权利要求2所述的加速器X射线能量检测方法,其特征在于所述的参考电离室腔体包括第一屏蔽外壳、第一高压极、第一收集极和参考窗,第一高压极和第一收集极置于第一屏蔽外壳内,参考窗置于第一屏蔽外壳上,屏蔽外壳充满工作气体;所述的第一收集极与参考静电计相连。
4.如权利要求2所述的加速器X射线能量检测方法,其特征在于所述的剂量增强电离室腔体包括第二屏蔽外壳、第二高压极、第二收集极、重金属窗和吸收窗;所述的第二高压极和第二收集极置于第二蔽外壳内,所述的重金属窗和吸收窗从里到外相互重叠构成剂量增强窗,剂量增强窗置于第二屏蔽外壳上,屏蔽外壳充满工作气体;所述的第二收集极与计量增强静电计相连。
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