[发明专利]一种基于大数据的手机显示屏自动校验系统

权利要求书

1.一种基于大数据的手机显示屏自动校验系统，其特征在于，包括数据采集模块、产线收集模块、数据处理模块、控制器、警示模块、数据库和显示模块；

所述数据采集模块用于采集每批次的手机显示屏的外部形态信息和内部工况信息，并将其传输至数据处理模块；

所述产线收集模块用于收集每批次的手机显示屏的生产流程管控信息和生产设备运转信息，并将其传输至数据库进行存储、调取；

所述数据处理模块在接收到外部形态信息和内部工况信息后，对其进行内外双向校验操作，具体步骤如下：

Q1：获取到一段时间内的每批次的手机显示屏的外部形态信息，并将其中的表面平整度数据、表面粗糙度数据和硬度数据分别标定为Wi、Ei和Ri，i=1…n；获取到一段时间内的每批次的手机显示屏的内部工况信息，并将其中的对比度数据、峰值亮度数据和像素密度数据分别标定为Ti、Yi和Ui，i=1…n；

Q2：先根据拟合公式，i=1…n，得到一段时间内的每批次的手机显示屏的外部形态标量Pi，其中的参数w、e和r均为外部形态评价的影响程度因子，w＞e＞r＞0且w+e+r=4.62；再根据拟合公式，i=1…n，得到一段时间内的每批次的手机显示屏的内部工况标量Ai，其中的参数t、y和u均为内部工况评价的影响程度因子，u＞t＞y＞0且t+y+u=5.38；

Q3：当一段时间内的每批次的手机显示屏的外部形态标量Pi＜预设值α、且其内部工况标量Ai＜预设值β时，则将该批次生成整体优质信号，并将该批次置于优质集；当一段时间内的每批次的手机显示屏的外部形态标量Pi≥预设值α、且其内部工况标量Ai≥预设值β时，则将该批次生成整体劣质信号，并将该批次置于劣质集；而其它情况下，则将该批次生成整体正常信号，并将该批次置于正常集；

而数据处理模块将整体优质信号、整体正常信号或整体低劣信号经控制器传输至警示模块发出提示音；

且数据处理模块还通过优质集、正常集和劣质集内的批次数量，当优质集和正常集内的批次数量/劣质集内的批次数量≥额定比例值时，则不做出任何的操作，反之，则从数据库中调取优质集、正常集和劣质集内的每批次的手机显示屏的生产流程管控信息和生产设备运转信息，对其进行产线监管反馈操作，得到设备差异信号、流程差异信号或流程设备同等影响信号，并将其经控制器传输至显示模块做出文本显示；

所述外部形态信息由每批次的手机显示屏的表面平整度数据、表面粗糙度数据和硬度数据组成，表面平整度数据表示该批次的所有手机显示屏的表面平整度的均值，表面粗糙度数据表示该批次的所有手机显示屏的表面粗糙度与额定值间的平均变化量，硬度数据表示该批次的所有手机显示屏的硬度的极值；

所述内部工况信息由每批次的手机显示屏的对比度数据、峰值亮度数据和像素密度数据组成，对比度数据、峰值亮度数据和像素密度数据均表示该批次的所有手机显示屏的对比度、峰值亮度和像素密度与其额定值间的总变化量；

所述生产流程管控信息由每批次的手机显示屏的打磨抛光流程数据、喷淋清洗流程数据和入炉钢化流程数据组成，打磨抛光流程数据表示该批次的所有手机显示屏所经历的打磨抛光过程的平均次数*平均时长，喷淋清洗流程数据表示该批次的所有手机显示屏所经历的喷淋清洗过程的平均次数*平均水温，入炉钢化流程数据表示该批次的所有手机显示屏所经历的入炉钢化过程的平均预热温度*平均时长；

所述生产设备运转信息由每批次的手机显示屏的研磨运转数据、超声清洗运转数据和钢化成型运转数据组成，研磨运转数据表示该批次的所有手机显示屏于研磨设备内的镜面正向压力≤0.08MPa时的平均时长，超声清洗运转数据表示该批次的所有手机显示屏于超声清洗设备内的频率位于20kHz-60kHz间的平均时长，钢化成型运转数据表示该批次的所有手机显示屏于钢化炉内的均质温度位于280℃-300℃间的平均时长；

所述产线监管反馈操作的具体步骤如下：

S1：获取到优质集、正常集和劣质集内的每批次的手机显示屏的生产流程管控信息，并将其中的打磨抛光流程数据、喷淋清洗流程数据和入炉钢化流程数据分别标定为Di、Fi和Gi，Hi、Ji和Ki，Li、Zi和Xi，i=1…n；获取到优质集、正常集和劣质集内的每批次的手机显示屏的生产设备运转信息，并将其中的研磨运转数据、超声清洗运转数据和钢化成型运转数据分别标定为di、fi和gi，hi、ji和ki，li、zi和xi，i=1…n；

S2：先根据拟合公式、和，分别得到优质集、正常集和劣质集内的所有批次的手机显示屏的流程管控量级C、V和B，再根据拟合公式、和，分别得到优质集、正常集和劣质集内的所有批次的手机显示屏的设备工作量级N、M和θ；

S3：当优质集、正常集和劣质集所对应的流程管控量级C：V：B位于预设范围c：v：b之内，且优质集、正常集和劣质集所对应的设备工作量级N：M：θ位于预设范围μ：m：γ之外时，则生成设备差异信号；当优质集、正常集和劣质集所对应的流程管控量级C：V：B位于预设范围c：v：b之外，且优质集、正常集和劣质集所对应的设备工作量级N：M：θ位于预设范围μ：m：γ之内时，则生成流程差异信号；而其它情况下，则生成流程设备同等影响信号。