[发明专利]芯片及其使用方法

权利要求书

1.一种芯片，其特征在于，包括：

存储单元；

数据处理单元，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；

测试控制单元，所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；以及

检测设备，所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。

2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述测试控制单元包括：第一主状态机模块和配置控制模块；

所述第一主状态机模块分别与所述数据处理单元、所述上位机、所述配置控制模块以及所述检测设备连接，其中，所述第一主状态机模块用于接收所述上位机发送的测试指令，并响应所述测试指令通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息；

所述配置控制模块与所述待测试芯片连接，所述配置控制模块用于接收所述第一主状态机模块发送的所述配置信息，并通过所述配置信息配置所述待测试芯片。

3.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述测试控制单元还包括：JTAG接口和JTAG编/译码模块；

所述JTAG接口分别与所述上位机和所述JTAG编/译码模块连接，所述JTAG接口用于接收所述上位机发送的测试指令，并将所述测试指令发送至所述JTAG编/译码模块；

所述JTAG编/译码模块与所述第一主状态机模块连接，所述JTAG编/译码模块用于对所述测试指令进行译码后发送至所述第一主状态机模块，或者，对所述第一主状态机模块上传至所述上位机的数据进行编码。

4.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述数据处理单元包括：第二主状态机模块和数据转换模块；

所述第二主状态机模块分别与所述上位机、所述第一主状态机模块和所述数据转换模块连接，所述数据转换模块与所述存储单元连接；

所述第二主状态机模块用于控制所述数据转换模块接收所述上位机发送的配置信息，并将所述配置信息转换格式后成指定格式的存储信息后写入所述存储单元，或者，在所述第一主状态机模块接收到所述测试指令时，控制所述数据转换模块从所述存储单元读取所述存储信息，并将所述存储信息转换为所述配置信息后发送至所述第一主状态机模块。

5.根据权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述数据转换模块包括：SPI接口、串并转换模块以及FLASH读/写控制模块；

所述SPI接口与所述上位机连接，所述SPI接口用于接收所述上位机发送的所述配置信息，并将所述配置信息转换为SPI数据；

所述串并转换模块分别与所述SPI接口和所述第二主状态机模块，所述串并转换模块用于将所述SPI数据转换为并口数据；

所述FLASH读/写控制模块分别与所述串并转换模块、所述存储单元以及所述第二主状态机模块连接，所述FLASH读/写控制模块用于将所述并口数据写入所述存储单元，或者，从所述存储单元中读取所述并口数据。

6.一种芯片使用方法，其特征在于，应用于如权利要求1至3任一项所述的芯片，所述方法包括：

控制所述测试控制单元通过所述数据处理单元从所述存储单元中获取预先存储的配置信息，并根据所述配置信息对所述待测试芯片进行配置；

获取所述待测试芯片的配置状态；

若所述待测试芯片的配置状态为指定状态，通过所述检测设备对处于所述指定状态下的待测试芯片进行测试，得到测试数据。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述配置信息包括位流信息，所述指定状态包括第一状态，在所述若所述待测试芯片的配置状态为指定状态，通过所述检测设备对所述配置状态下的待测试芯片进行测试，得到测试数据之前，还包括：

若所述待测试芯片中不存在所述位流信息，确定所述待测试芯片的配置状态为第一状态。