[发明专利]用于校准测量设备的方法和装置

权利要求书

1.一种装置，包括：

校准电路，被配置为调整交流电流的测量，所述校准电路包括：

至少一个电气元件，位于所述校准电路的两个端子之间的电通路中，所述电通路配置为当所述电通路处于闭合电路构造时，提供所述两个端子之间的电连接；以及

至少一个其他电气元件，位于所述两个端子之间的所述电通路中；

其中，所述电通路被配置为当所述校准电路的所述至少一个其他电气元件受到影响时被设置为开路构造。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述电气元件是电阻器。

3.根据权利要求1所述的装置，其中所述电气元件是电容器。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述其他电气元件是熔断器。

5.根据权利要求1所述的装置，其中所述其他电气元件是开关。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置，其中所述其他电气元件被配置为被烧毁以断开所述电通路。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置，还包括：在所述两个端子中的一个端子和不同端子之间的第二电通路，所述第二电通路包括至少一个附加的电气元件和至少一个附加的其他电气元件。

8.根据权利要求7所述的装置，还包括：分离电气元件，其连接在所述两个端子中的所述一个端子和所述不同端子之间，使得在所述电通路和所述第二电通路之间存在分离。

9.根据权利要求8所述的装置，其中所述分离电气元件是至少一个电阻器。

10.根据权利要求7所述的装置，其中所述电气元件是电阻器，并且所述附加电气元件是电容器。

11.根据权利要求1所述的装置，还包括在所述两个端子之间的第一多个电通路，其中所述第一多个电通路包括所述电通路，并且其中所述装置还包括在所述两个端子中的一个端子和不同端子之间的附加的多个电通路，其中所述附加的多个电通路中的每一个包括至少一个附加的电气元件和至少一个附加的其他电气元件。

12.根据权利要求1所述的装置，还包括位于与所述电通路不同的单独外壳中的至少一个第二电通路，所述至少一个第二电通路包括至少一个附加电气元件和至少一个其他附加电气元件。

13.一种方法，包括：

从参考传感器获取参考测量；

从附加传感器获得附加测量；

基于将所述参考测量与所述附加测量进行比较，确定所述参考测量与所述附加测量之间的差值；

确定所述差值是否满足一个或多个条件；以及

基于确定所述差值满足所述一个或多个条件来设置电路的配置。

14.根据权利要求13所述的方法，其中确定所述差值是否满足所述一个或多个条件包括以下至少一项：将所述差值与一个或多个先前确定的其他差值进行比较，或将所述差值与阈值进行比较。

15.根据权利要求13或14所述的方法，其中设置所述配置包括生成校准码并基于所述校准码影响电气元件的通路。