[发明专利]一种基于散射测量的高集成天线辐射方向图测试方法在审
| 申请号： | 202110364166.1 | 申请日： | 2021-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN113125862A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 张照;施兴华;葛薇;王成浩;李少龙;吴燕民 | 申请（专利权）人： | 中国电波传播研究所（中国电子科技集团公司第二十二研究所） |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 青岛博雅知识产权代理事务所(普通合伙) 37317 | 代理人： | 封代臣 |
| 地址： | 266107 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 散射 测量 集成 天线 辐射 方向 测试 方法 | ||
1.一种基于散射测量的高集成天线辐射方向图测试方法，其特征在于：
(1)基于单站雷达截面RCS测试系统：
将发射探头放在待测天线的远场区；
首先对待测天线的输入端口端接短路负载，将待测天线架设到测试系统中，通过转台操控天线旋转，得到天线的散射总场并记录；
接着将待测天线的输入端口端接匹配负载，将待测天线架设到测试系统中，通过转台操控天线旋转，得到天线的结构模式项散射场并记录；
用天线的散射总场减去天线的结构模式项散射场得到天线模式项散射场结合照射波的强度可以由获得对应的单站RCS，
后利用公式获取天线的辐射增益方向函数，其中Γl为天线向馈电端口的电压反射系数，短路时为—1，Γa为馈电端口向天线的反射系数，匹配时为0，λ为测试频点波长，G为辐射增益方向函数；
(2)基于双站RCS测试系统：
将发射探头放在待测天线的远场区；
首先对待测天线的输入端口端接短路负载，将待测天线架设到测试系统中，通过接收探头旋转，得到天线的散射总场并记录；
接着将待测天线的输入端口端接匹配负载，将待测天线架设到测试系统中，通过接收探头旋转，得到天线的结构模式项散射场并记录；
用天线的散射总场减去天线的结构模式项散射场得到天线模式项散射场结合照射波的强度可以由获得对应的双站RCS，
最后利用公式获取天线的辐射方向图。
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