[发明专利]一种全自动老化测试系统及方法在审

专利信息
申请号: 202110356226.5 申请日: 2021-04-01
公开(公告)号: CN113049904A 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 张凯 申请(专利权)人: 韦森特(东莞)科技技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/01;B07C5/34;B07C5/38
代理公司: 东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙) 44608 代理人: 邱凯
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 全自动 老化 测试 系统 方法
【说明书】:

本发明公开了一种全自动老化测试系统及方法,其中,全自动老化测试系统包括前加工机构,前加工机构包括烧录组件和机械臂组件,烧录组件将老化测试程序写入被测工件之中,机械臂组件将被测工件送至烧录组件,并将被测工件从烧录组件取下送至输送机构;老化测试机构,老化测试机构包括老化测试组件和上下料组件,老化测试组件为被测工件供电,上下料组件将被测工件与老化测试组件连接,或将被测工件从老化测试组件取下并送至输送机构;后加工机构,后加工机构包括机械臂组件和卸载组件,卸载组件从被测工件中将老化测试程序卸载,机械臂组件将被测工件从输送机构取下送至卸载组件。本发明具有节省人力、提高生产效率、适用面广的优点。

技术领域

本发明涉及老化测试技术领域,具体为一种全自动老化测试系统及方法。

背景技术

随着社会的发展,人们对电子产品的质量要求越来越高,为了提高电子产品的出厂质量,在出厂前需要对电子产品进行老化测试,从而筛选出电子产品可能存在的早期故障,以提高产品的稳定性和可靠性,这是电子产品生产流程中的重要环节。

现有技术中,对电子产品进行老化测试时,一般采用皮带传送的生产流程,其中所有老化测试环节均由人工来操作,先是由作业人员逐一将产品放到测试治具上,然后将测试治具放入测试房或测试设备内进行老化测试,测试完成后再逐一将产品放回皮带并运送到下一个工位。显然,这种生产流程中,所有的测试工作均靠人工操作,占用大量人力资源,且存在人员疏忽混淆良品与不良品的情况,限制了产能的提高,不仅效率低而且产品质量不稳定,无法满足大批量的产品老化测试需求。

如授权公告号为CN102749547B的中国发明专利公布了一种机械手式自动老化测试设备,具体的涉及一种机械手式自动老化测试设备,其结构包括有机架、治具、输入升降机构、插件机构、老化机构、测试机构、输出升降机构以及控制装置。与现有技术相比,本发明通过一条连续生产线实现电子产品老化及测试的自动化控制,大大节省了人力,可显著提高企业的生产效率,降低生产成本。

但在实际应用中发现,上述对比文件中的技术方案存在以下问题:

一、如对比文件中的技术方案,空载治具经输入升降机构进入到上机工位,作业员将电子产品依次放入治具的产品安装槽,然后治具输送至插件机构的插件工位,插件机构将电子产品插入至产品安装槽内固定,接着,治具进入老化机构,该过程是通过进出料机械手装置实现将治具由进料升降机输送至老化架的老化工位进行老化,以及老化完成后将治具由老化工位输送至出料升降机;然后,治具进入测试机构,并将治具与测试装置电连接完成老化后的性能测试,当测试完成后,治具到达下机工位处,此时,可将治具上的电子产品卸载,然后空治具由输出升降机构返回至上机工位处,如此完成一次电子产品的自动老化测试。需要人工将电子产品依次放入治具的产品安装槽,严重浪费人力,自动化程度较低,与自动化设备的初衷相违背。

二、部分电子产品如智能手机、平板电脑在进行老化测试前,需要预先写入老化程序,而上述对比文件中的技术方案均没有设置此功能,需要额外配备人力及设备对产品进行程序烧录,这就导致老化测试系统的适用面不足,只能用于少部分电子产品的老化测试工作。

因此,针对现有技术中的不足,有必要推出一种全自动老化测试系统,以改善以上问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种全自动老化测试系统及方法,具备节省人力、提高生产效率、适用面广的优点,解决了以上背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种全自动老化测试系统及方法,包括:

前加工机构,所述前加工机构包括烧录组件和机械臂组件,所述烧录组件用于将老化测试程序写入被测工件之中,所述机械臂组件用于将被测工件从输送机构取下送至烧录组件,并在烧录完成后将被测工件从烧录组件取下送至输送机构;

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