[发明专利]一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置及方法

说明书

本发明公开了一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置及方法，包括梯温炉，所述梯温炉上设有热电偶，所述热电偶由梯温炉的外壁伸入梯温炉的内腔中，所述梯温炉内腔中设置有D形管，D形管上放置有梯温板，所述梯温板的安装面上开设有若干个平行排列的凹槽，所述凹槽用于插装微晶玻璃，每个相邻凹槽之间的距离相同。本发明的梯温炉进行一次实验，即可实验大量的微晶化方案，使得微晶玻璃微晶化方案的筛选效率大为提高，减少成本，经济效益更高。

技术领域

本发明属于微晶玻璃微晶化技术领域，具体属于一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置及方法。

背景技术

目前微晶玻璃的晶化方案筛选时，通过DSC曲线大致确定核化温度与晶化温度，然后通过晶化炉进行微晶方案的筛选，但因为晶化炉一次只能进行一个微晶化方案的实验，因此实验次数巨大，使得玻璃晶化方案的筛选耗时耗力，成本较高。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本发明提供一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置及方法，解决目前微晶玻璃的晶化方案筛选只能满足一次进行一个微晶化方案的实验，耗时耗力，成本较高的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置，包括梯温炉，所述梯温炉上设有热电偶，所述热电偶由梯温炉的外壁伸入梯温炉的内腔中，所述梯温炉内腔中设置有D形管，D形管上放置有梯温板，所述梯温板的安装面上开设有若干个平行排列的凹槽，所述凹槽用于插装微晶玻璃，每个相邻凹槽之间的距离相同。

进一步的，在梯温炉工作时，每个玻璃的温度形成梯度，每个玻璃的温度波动在±0.1℃以内。

进一步的，在梯温炉的入口向梯温炉的底部方向，凹槽位于第二根热电偶和倒数第二根热电偶之间。

进一步的，梯温板和D形管的入口端齐平，所述凹槽位于第二根热电偶和倒数第二根热电偶之间。

进一步的，每个凹槽之间的间距为10～100mm。

进一步的，所述凹槽的宽度为1～5mm。

进一步的，所述梯温板的最大长度小于D形管的长度，所述梯温板的最大宽度小于D形管的宽度。

进一步的，所述梯温板的材料为碳化硅、高锆英石、石英晶体、石墨、刚玉或莫来石。

进一步的，所述凹槽的深度为2～30mm。

本发明还提供一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置的方法，包括以下步骤：

根据待筛选微晶化方案的玻璃DSC曲线确定微晶玻璃的核化温度范围、核化时间、晶化温度范围和晶化时间；

根据梯温炉确定梯温板上的温度梯度；

根据核化温度范围、核化时间、晶化温度范围、晶化时间和已经确定的梯温板温度范围，确定梯温炉微晶化实验次数与温控程序；

梯温板上插装若干个微晶玻璃，再将载有微晶玻璃的梯温板放入梯温炉中；

将赛端塞入梯温炉，设置好梯温炉温控程序，开启升温程序，进行玻璃的微晶化实验；

对微晶化的玻璃进行表征实验以确定最佳的玻璃微晶方案。

与现有技术相比，本发明至少具有以下有益效果：

本发明提供了一种用于高效筛选微晶玻璃微晶化方案的装置，通过在梯温板上开设用于插装微晶玻璃的凹槽，将若干个微晶玻璃插装在凹槽中，每个微晶玻璃之间的距离相同，保证受热均匀，确保实验数据准确性，然后将微晶玻璃送入梯温炉中，经热电偶保持每个凹槽中的微晶玻璃的温度，梯温炉进行一次实验，即可实验大量的微晶化方案，使得微晶玻璃微晶化方案的筛选效率大为提高，减少成本，经济效益更高。