[发明专利]备用电路分派方法、装置、设备及介质

说明书

本申请涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质，所述方法包括：执行第一测试项目，获取第一测试数据；根据第一测试数据确定包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据的第一次备用电路分派结果；执行第二测试项目，获取第二测试数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派完可分派的地域备用电路时，基于第一测试数据和第二测试数据获取处于目标子域及关联子域的失效位元的目标位置数据；根据目标位置数据第一测试数据和第二测试数据确定第二次备用电路分派结果，以提高备用电路的利用效率及存储芯片良率。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域，具体涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质。

背景技术

随着半导体存储技术的快速发展，市场对半导体存储装置的存储性能与可靠性提出了更高的要求。半导体存储装置中记忆单元的数量及密度不断增加，导致半导体存储装置中失效位元的总数及相对于记忆单元总数的百分比不断增加，影响半导体存储装置的存储性能与可靠性。

在半导体存储装置的存储阵列区预先增设预定数量的备用电路，利用备用电路调换具有失效位元的地址线，对具有失效位元的半导体存储装置进行修补，可以有效地提高半导体存储装置的存储性能与可靠性。

如何在半导体存储装置中可利用的备用电路的数量已知的情况下，确定备用电路分派修补方案，在保证所有失效位元均能够被修补的前提下，提高备用电路的利用效率，成为进一步提高半导体存储装置的存储性能与可靠性过程中亟待解决的技术难题之一。

发明内容

基于此，有必要针对上述背景技术中的技术问题，提供一种备用电路分派方法、装置、设备及介质，在保证所有失效位元均能够被修补的前提下，提高备用电路的利用效率。

为实现上述目的及其他目的，本申请的第一方面提供一种备用电路分派方法，包括：

执行第一测试项目并获取第一测试数据，所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据；

根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果，所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据；

执行第二测试项目并获取第二测试数据，所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据；

当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时，基于所述第一测试数据和所述第二测试数据获取处于目标子域及关联子域的失效位元的目标位置数据，并根据所述目标位置数据确定第二次备用电路分派结果，其中，所述目标子域为所述修补范围之外的失效位元所处的子域。

于上述实施例中的备用电路分派方法中，在可分派的地域备用电路及可分派的全域备用电路的数量均已知的情况下，执行第一测试项目，获取第一测试数据，所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据，以根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果，所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据；并执行第二测试项目，获取第二测试数据，所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据；当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元，且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时，根据待修补的失效位元所处子域的情况确定第二次备用电路分派结果，在确保所有失效位元均能够被已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路修补的前提下，使得已分派的地域备用电路的数量及已分派的全域备用电路的数量之和尽可能减少，避免出现重复修补的情况，提高备用电路的利用效率。