[发明专利]一种OTA测试暗室

权利要求书

1.一种OTA测试暗室，包括：

屏蔽壳体，所述屏蔽壳体限定暗室的内部空间；

吸波材料，设置在所述屏蔽壳体的内墙面上；

反射面，设置在所述暗室的所述内部空间的长度方向的第一端；

平面波发生器，设置在所述内部空间的与所述第一端相对的第二端；

转台，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述平面波发生器之间，配置为安装待测对象；

馈源，设置在所述内部空间内且位于所述反射面与所述转台之间；

可移动吸波屏风，配置为可在驱动元件的驱动下移动至所述反射面与所述馈源之间遮挡所述反射面，或移动至所述转台与所述平面波发生器之间遮挡所述平面波发生器；以及

导轨，所述导轨设置在所述内部空间的顶部和/或底部，配置为允许所述吸波屏风沿所述导轨移动。

2.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其中，所述吸波屏风包括基板和固定在所述基板上的吸波材料。

3.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，还包括：

连接件，由非金属材料制成，用于连接所述吸波屏风与所述导轨。

4.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其中，所述转台包括：

转台底座、设置在所述转台底座上具有朝上的开口的U形臂、以及设置在所述U形臂的所述开口处的滚转轴；

所述转台底座配置为可带动所述U形臂沿Y轴和/或X轴平移，和/或带动所述U形臂绕所述转台底座的中心轴线转动；

所述滚转轴配置为安装所述待测对象，且配置为可带动所述待测对象沿所述U形臂上下移动和/或绕所述滚转轴的中心轴线转动。

5.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其中，所述平面波发生器包括天线探头阵列，所述天线探头阵列的尺寸为2m×2m×0.7m。

6.根据权利要求1所述的OTA测试暗室，其中，所述暗室为长方体状，所述暗室的所述内部空间的净空间的尺寸至少为7.2m×3m×2.7m。

7.根据权利要求6所述的OTA测试暗室，其中，所述转台的中心与所述平面波发生器之间的距离占所述净空间的长度的0.32-0.38；

所述转台的中心与所述反射面的中心之间的距离占所述净空间的长度的0.39-0.45。

8.根据权利要求6所述的OTA测试暗室，其中，所述屏蔽壳体的外尺寸至少为8m×4m×4m；并且

所述暗室的所述内部空间的主反射墙上的吸波材料的高度不高于70cm，且除所述主反射墙外的其他墙面上的吸波材料的高度不高于50cm。