[发明专利]一种缺相检测电路与电子设备

权利要求书

1.一种缺相检测电路(100)，其特征在于，所述缺相检测电路(100)包括第一相线(110)、第二相线(120)、第三相线(130)、中性线(140)、关联器件(150)以及缺相检测器(160)，所述第一相线(110)、所述第二相线(120)、所述第三相线(130)以及所述中性线(140)均用于与一电源电连接，所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)均通过所述关联器件(150)与所述中性线(140)电连接，以使所述第一相线(110)、所述第二相线(120)、所述第三相线(130)的电压均与所述中性线(140)的电压关联；

所述缺相检测器(160)包括检测电路与主芯片，所述检测电路的第一端分别与所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)电连接，所述检测电路的第二端与所述中性线(140)电连接，所述检测电路的第三端与所述主芯片电连接，以将所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)的合电压与所述中性线(140)电压比较后生成的信号传输至所述主芯片；其中，

当所述主芯片接收到第一信号时，确定所述第一相线(110)、所述第二相线(120)、所述第三相线(130)以及所述中性线(140)正常工作；

当所述主芯片接收到第二信号时，确定所述第一相线(110)、所述第二相线(120)、所述第三相线(130)以及所述中性线(140)中的至少一个缺相。

2.根据权利要求1所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，所述检测电路包括采样模块与比较模块，所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)均分别通过所述采样模块与所述比较模块的第一端电连接，所述比较模块的第二端与所述中性线(140)电连接，所述比较模块的第三端与所述主芯片电连接；

当所述比较模块的第一端的电压大于所述第二端的电压时，所述比较模块向所述主芯片输出低/高电平信号；

当所述比较模块的第一端的电压小于所述第二端的电压时，所述比较模块向所述主芯片输出高/低电平信号。

3.根据权利要求2所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，采样模块包括第一电阻与二极管，所述第一电阻与所述二极管的阳极串联，所述二极管的阴极与所述比较模块的第一端电连接。

4.根据权利要求2所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，所述比较模块包括光耦、第二电阻以及驱动电源，所述光耦包括发光二极管与受光三极管，所述发光二极管的阳极与所述采样模块电连接，所述发光二极管的阴极与所述中性线(140)电连接；所述受光三极管的发射极接地，所述受光三极管的集电极分别与所述第二电阻的一端、所述主芯片电连接，所示第二电阻的另一端与所述驱动电源电连接；

当所述比较模块的第一端的电压大于所述第二端的电压时，所述比较模块向所述主芯片输出低电平信号；

当所述比较模块的第一端的电压小于所述第二端的电压时，所述比较模块向所述主芯片输出高电平信号。

5.根据权利要求1所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，所述第一相线(110)、所述第二相线(120)、所述第三相线(130)的输出端与一负载电连接，所述缺相检测电路(100)还包括控制电源，所述控制电源的一端与所述中性线(140)电连接，所述控制电源的另一端分别与所述第一相线(110)、所述第二相线(120)或所述第三相线(130)电连接，所示控制电源用于驱动所述负载工作。

6.根据权利要求1所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，所述关联器件(150)包括电容与电阻，所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)均分别通过所述电容和/或所述电阻与中性线(140)电连接。

7.根据权利要求1所述的缺相检测电路(100)，其特征在于，所述缺相检测电路还包括滤波器(170)，所述滤波器(170)包括所述关联器件(150)与线圈，所述线圈设置于所述第一相线(110)、所述第二相线(120)以及所述第三相线(130)上。