[发明专利]一种软错误的监控方法和设备

说明书

本公开实施例提供一种软错误的监控方法和设备，其中方法包括：响应于芯片内部发生软错误，芯片内的软错误防护控制器修正软错误；基于软错误防护控制器的状态线输出的信号变化，判定软错误防护控制器的软错误信息，并写入存储器中。该方法可以利用芯片自身的硬件资源监控FPGA芯片内部是否发生过软错误，同时判定并存储相应的软错误信息，不需要增加额外的电路设计，为硬件设计节约一部分成本。

技术领域

本公开涉及通信技术领域，尤其涉及一种软错误的监控方法和设备。

背景技术

单粒子翻转是单个高能粒子射入半导体器件灵敏区，使器件逻辑状态翻转的现象，单粒子翻转致使逻辑状态由“0”变成“1”，或者“1”变成“0”，从而导致内存的数据错误，即软错误。在FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)芯片这种大量使用内存的逻辑器件中，一旦发生软错误，即使是一个比特位的损坏，也有可能导致内存中文件的失效、存储状态的变更、或者影响状态机的跳转，最终导致FPGA芯片的结构与功能发生变化而功能失效。

FPGA芯片厂商已经开发相应的SEM(Soft Error Mitigation，软错误防护)IPCore(Intellectual Property Core，知识产权核)，在FPGA芯片中调用该SEM IP Core可以监测并修正软错误，但无法保证能将全部软错误修改过来。所以，软错误监控对FPGA芯片的调试和使用就变得十分重要。

目前，FPGA芯片针对软错误的监控方式，主要是使用集成在SEM IP Core的UART(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用异步收发传输器)接口来实现的，该方式通过UART接口打印芯片的状态，需要设计额外的接口电路，在硬件设计上增加了一定的成本。

发明内容

有鉴于此，本公开实施例提供一种软错误的监控方法和设备。

具体地，本公开实施例是通过如下技术方案实现的：

第一方面，提供一种软错误的监控方法，应用于芯片，所述方法包括：

响应于芯片内部发生软错误，所述芯片内的软错误防护控制器修正所述软错误；

基于所述软错误防护控制器的状态线输出的信号变化，判定所述软错误防护控制器的软错误信息，并写入存储器中。

第二方面，提供一种软错误的监控设备，所述设备包括：

软错误防护模块，用于响应于芯片内部发生软错误，修正所述软错误，同时通过自身的状态线输出信号的变化；

状态寄存器模块，用于基于所述软错误防护模块的状态线输出的信号变化，判定所述软错误防护模块的软错误信息，并写入交互存储模块中；

交互存储模块，用于存储所述状态寄存器模块写入的软错误信息。

第三方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现本公开任一实施例所述软错误的监控方法。

本公开的技术方案提供的软错误监控方法可以利用芯片自身的硬件资源监控FPGA芯片内部是否发生过软错误，同时判定并存储相应的软错误信息，不需要增加额外的电路设计，为硬件设计节约一部分成本。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本说明书。

附图说明

为了更清楚地说明本公开一个或多个实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开一个或多个实施例中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。