[发明专利]绝缘子污闪监测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述绝缘子之间设置有OPGW光缆，所述OPGW光缆的至少一端设置有光学主机，所述光学主机接收所述OPGW光缆返回的后向瑞利散射光信号，并转化为电信号；

所述方法包括：

筛选所述OPGW光缆上的采样点，获得目标对象；

获取所述目标对象的特征信息，作为目标信息，所述特征信息包括与所述目标对象对应的所述电信号的接收时间、电压幅值、频率值和振动幅值；

获取所述目标对象的所述电压幅值首次大于预设的第一电压阈值时的所述接收时间，作为参照时间点；

获取所述参照时间点前预设的第一时间段的所述目标对象的所述特征信息，作为预警信息；

根据所述预警信息判断所述目标对象是否发生闪络故障。

2.根据权利要求1所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述筛选所述OPGW光缆上的采样点，获得目标对象，包括：

基于所述光学主机的空间分辨率将所述OPGW光缆划分为若干采样点；

采集各个所述采样点的所述电信号的采样波形图和采样频谱图；

对所述采样波形图和所述采样频谱图进行采样，获得采样波形坐标集和采样频谱坐标集；

基于所述采样波形坐标集和所述采样频谱坐标集选取符合预设的特征条件的所述采样点，作为参考对象；

从所述参考对象中选取距离所述光学主机最近的所述采样点作为目标对象。

3.根据权利要求2所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述预设的特征条件包括：

遍历每个所述采样点的所述采样波形坐标集，筛选所述电压幅值大于预设的第二电压阈值的所述接收时间，作为每个所述采样点的初始时间集；

获取每个所述初始时间集中值最大的所述接收时间，作为每个所述采样点的目标时间；

将每个所述目标时间在预设的时间范围内的所述采样点作为参考对象。

4.根据权利要求2所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述预设的特征条件包括：

遍历每个所述采样点的所述采样频谱坐标集，筛选所述振动幅值与预设的第一振幅阈值的第一比值大于预设的第一阈值的所述频率值，作为每个所述采样点的初始频率集；

获取每个所述初始频率集中值最大的所述频率值，作为每个所述采样点的目标频率；

将每个所述目标频率在预设的第一频率范围的所述采样点作为参考对象。

5.根据权利要求2所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述预设的特征条件包括：

遍历每个所述采样点的所述采样频谱坐标集，筛选所述频率值为工频或谐波频率的所述振动幅值，作为每个所述采样点的初始振幅集；

计算每个所述初始振幅集中值最大的所述振动幅值与预设的第二振幅阈值的第二比值；

将每个所述第二比值大于预设的第二阈值的所述采样点作为参考对象。

6.根据权利要求1所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述根据所述预警信息判断所述目标对象是否发生闪络故障，包括：

基于所述预警信息生成所述目标对象的预警波形图和预警频谱图；

对所述预警波形图和所述预警频谱图进行采样，获得预警波形坐标集和预警频谱坐标集；

基于所述预警波形坐标集和所述预警频谱坐标集判断所述目标对象是否发生闪络故障。

7.根据权利要求6所述的绝缘子污闪监测方法，其特征在于，所述基于所述预警波形坐标集和所述预警频谱坐标集判断所述目标对象是否发生闪络故障，包括：

遍历所述预警波形坐标集，判断所述目标对象的所述电压幅值是否大于预设的第三电压阈值；

若所述目标对象的所述电压幅值大于所述第三电压阈值，则遍历所述预警频谱坐标集，判断所述目标对象的所述振动幅值最大的所述频率值是否落入预设的第二频率范围；

若所述振动幅值最大的所述频率值落入所述第二频率范围，则确定所述目标对象发生闪络故障。