[发明专利]仪器的校准

权利要求书

1.一种系统，包括：

外部光源；以及

光谱仪，所述光谱仪包括光谱仪光源，

其中所述光谱仪配置成：

确定要更新基线校准值，

基于确定要更新所述基线校准值，停用所述外部光源；以及

基于源自所述光谱仪光源的反射光，更新所述基线校准值。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱仪光源在所述光谱仪的传感器和所述光谱仪的扩散器之间。

3.根据权利要求1所述的系统，其中，在确定要更新所述基线校准值时，所述光谱仪配置成：

基于周期性地更新预定间隔来确定要更新所述基线校准值。

4.根据权利要求1所述的系统，其中，在确定要更新所述基线校准值时，所述光谱仪配置成：

基于阈值温度变化来确定要更新所述基线校准值。

5.根据权利要求1所述的系统，其中，在确定要更新所述基线校准值时，所述光谱仪配置成：

基于测量的阈值数量来确定要更新所述基线校准值。

6.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱仪还配置成：

在更新所述基线校准值之前激活所述光谱仪光源。

7.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱仪还配置成：

在所述外部光源和所述光谱仪光源被停用时确定暗态基线校准值。

8.根据权利要求1所述的系统，其中所述反射光在从所述光谱仪光源发出之后从扩散器反射。

9.根据权利要求1所述的系统，其中所述光谱仪还配置成：

停用所述光谱仪光源；

激活所述外部光源；以及

当来自所述外部光源的光与样品相互作用时，基于所述基线校准值执行测量。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述样品在样品窗口之间。

11.根据权利要求1所述的系统，

其中所述基线校准值是亮态基线校准值，并且

其中所述亮态基线校准值不同于暗态基线校准值。

12.根据权利要求11所述的系统，其中所述光谱仪还配置成：

基于所述亮态基线校准值和所述暗态基线校准值执行测量。

13.一种方法，包括：

确定要更新基线校准值，

基于确定要更新所述基线校准值，停用外部光源；以及

基于源自光谱仪光源的反射光，更新所述基线校准值。

14.根据权利要求13所述的方法，其中所述光谱仪光源在光谱仪的传感器和光谱仪的扩散器之间。

15.根据权利要求13所述的方法，其中确定要更新所述基线校准值包括：

基于阈值温度变化或测量的阈值数量确定要更新所述基线校准值。

16.根据权利要求13所述的方法，还包括：

在所述外部光源和所述光谱仪光源被停用时确定暗态基线校准值。

17.根据权利要求13所述的方法，

其中所述基线校准值是亮态基线校准值，并且

其中所述亮态基线校准值不同于暗态基线校准值。

18.根据权利要求17所述的方法，还包括：

基于所述亮态基线校准值和所述暗态基线校准值执行测量。