[发明专利]一种耳罩隔声量的处理方法及耳罩的制造方法

权利要求书

1.一种耳罩隔声量的处理方法，其特征在于，包括

选取耳罩参数和漏声路径参数；其中，耳罩参数包括耳罩单体质量M_m、耳罩垫阻尼R_m、耳罩垫弹性系数K_m、耳罩壳体体积V_s、耳罩垫面积S_s；漏声路径参数包括n条漏声路径的等效长度和等效半径，其中，第i条漏声路径的等效长度为l_i，第i条漏声路径的等效半径为a_i，i和n均为正整数，n≥1，且i∈[1,2,3…n]；

根据耳罩参数和漏声路径参数计算得到频域传递函数；

根据频域传递函数计算耳罩的隔声量；其中，计算耳罩内外声压的频域传递函数的具体过程为：先根据耳罩参数和漏声路径参数计算耳罩壳内腔体的声学阻抗K_A、耳罩的声学阻抗Z₁、漏声路径的总阻抗Z_leak，而后根据耳罩壳内腔体的声学阻抗K_A、耳罩的声学阻抗Z₁和漏声路径的总阻抗Z_leak计算得到频域传递函数；根据耳罩参数和漏声路径参数计算漏声路径的总阻抗的具体过程为：

先根据耳罩参数和漏声路径参数计算每条漏声路径对应的漏声路径管道的阻抗和漏声路径管道端口的辐射阻抗，其中，第i条漏声路径对应的漏声路径管道的阻抗为Z_tubei，第i条漏声路径对应的漏声路径管道端口的辐射阻抗为Z_radi；根据以下公式计算第i条漏声路径对应的漏声路径管道的阻抗Z_tubei和漏声路径管道端口的辐射阻抗Z_radi：

其中，K为变量，μ为流体切变粘滞系数、k为波数；

根据每条漏声路径对应的漏声路径管道的阻抗和漏声路径管道端口的辐射阻抗计算得到每条漏声路径各自对应的阻抗；

根据每条漏声路径对应的阻抗计算得到漏声路径的总阻抗Z_leak。

2.根据权利要求1所述的一种耳罩隔声量的处理方法，其特征在于，利用以下公式计算得到频域传递函数：

其中，ρ是空气密度，c是声速，j为虚数单位，ω为角频率，p_i为耳罩内声压，p_o为耳罩外声压。

3.根据权利要求1所述的一种耳罩隔声量的处理方法，其特征在于，根据以下公式计算得到每条漏声路径各自对应的阻抗：设定第i条漏声路径对应的阻抗为Z_leaki：

Z_leaki＝Z_tubei+Z_radi。

4.根据权利要求2所述的一种耳罩隔声量的处理方法，其特征在于，通过以下公式计算耳罩的隔声量：

NR_new(ω)＝-20log₁₀(TF_new(ω))。

5.根据权利要求3所述的一种耳罩隔声量的处理方法，其特征在于，根据以下公式计算漏声路径的总阻抗Z_leak：

6.一种耳罩的制造方法，其特征在于，采用权利要求1～5任一项所述的一种耳罩隔声量的处理方法，设定耳罩的隔声量限定值R，当根据选取的耳罩参数和漏声路径参数计算得到的耳罩的隔声量小于等于R，则重新选取耳罩参数和漏声路径参数并重新计算耳罩的隔声量；当选取的耳罩参数和漏声路径参数对应的耳罩的隔声量大于R时，则根据选取的耳罩参数和漏声路径参数制作耳罩。