[发明专利]LCD异物缺陷彩色成像检测方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请是关于一种LCD异物缺陷彩色成像检测方法。该方法包括：通过彩色工业相机在预设光源下对LCD模组进行拍摄，得到LCD模组图像；对LCD模组图像进行感兴趣区域提取，得到LCD待测图像，LCD待测图像中包括至少一个响应亮点；对LCD待测图像进行RGB通道识别，得到至少一个响应亮点在RGB三个通道分别对应的通道灰度值；根据第一光波的基色确定阈值分割通道；在阈值分割通道中使用灰度阈值对至少一个响应亮点对应的通道灰度值进行阈值分割，得到LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物属性分类，异物属性分类包括灰尘和异物缺陷。本申请提供的方案，能够提升LCD模组异物缺陷检测的准确度，提高检测效率。

技术领域

本申请涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种LCD异物缺陷彩色成像检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术

LCD模组通常为一种多层结构，在生产制造LCD模组的过程中，存在着多种贴膜、压合的工艺，在加工过程中难免会引入一些灰尘、杂质等异物，从而造成LCD模组的成品存有缺陷。传统的解决办法是采用人工检测方式，然而随着机器视觉行业的快速发展，机器视觉缺陷检测已经在诸多行业取代了旧有的人工检测方式，极大地提高的了检测效率。机器视觉缺陷检测通常会利用高分辨率的黑白工业相机对LCD模组画面进行成像检测，分别拍摄两张产品画面，一张为背光点亮时的LCD模组的成像画面，另一张为表面打光的LCD模组成像画面，通过检测算法对比两个图像之间亮点的位置从而区分和识别异物缺陷。

在现有技术中，公开号为CN110445921A的专利（一种基于机器视觉的手机屏背光异物缺陷诊断方法及装置）中，提出了一种异物缺陷诊断方法，在灰尘干扰因素的去除上设计了一种灰尘侧光装置，能排除灰尘对背光异物缺陷的干扰，并针对整个背光异物缺陷的检测设计了一套检测算法能识别手机屏中是否含有缺陷。

上述现有技术存在以下缺点：

在灰尘侧光装置对灰尘进行打亮和成像时，容易把异物缺陷也成像出来，缺陷可能被误判为表面灰尘而被过滤出去，造成了异物缺陷漏检的问题。因此，需要研发一种在成像图像中根据RGB值区分表面灰尘和异物缺陷的方法。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题，本申请提供一种LCD异物缺陷彩色成像检测方法，该LCD异物缺陷彩色成像检测方法，能够提升LCD模组异物缺陷检测的准确度，提高检测效率。

本申请第一方面提供一种LCD异物缺陷彩色成像检测方法，包括：

通过彩色工业相机在预设光源下对LCD模组进行拍摄，得到LCD模组图像，预设光源包括背光光源以及表面打光光源；表面打光光源发出第一光波，第一光波为三基色光中的任意一种基色光；背光光源发出第二光波，第二光波包含至少一种与第一光波不一样的基色光；

对LCD模组图像进行感兴趣区域提取，得到LCD待测图像，LCD待测图像中包括至少一个响应亮点；

对LCD待测图像进行RGB通道识别，得到至少一个响应亮点在RGB三个通道分别对应的通道灰度值；

根据第一光波的基色确定阈值分割通道；

在阈值分割通道中使用灰度阈值对至少一个响应亮点对应的通道灰度值进行阈值分割，得到LCD模组图像中至少一个响应亮点对应的异物属性分类，异物属性分类包括灰尘和异物缺陷。

在一种实施方式中，根据第一光波的基色确定阈值分割通道，包括：

若第二光波为三种基色组合的光，则确定阈值分割通道为第一光波的基色对应的RGB值中灰度值为零的通道；

若第二光波为任意两种基色组合的光，则确定阈值分割通道为第一光波的基色对应的RGB值中灰度值为零且第二光波的颜色对应的RGB值中灰度值不为零的通道；

若第二光波为一种基色光，则确定阈值分割通道为第二光波的基色对应的RGB值中灰度值最高的通道。