[发明专利]电流测量电路校准参数的确定方法、装置、系统及设备有效
| 申请号: | 202110344178.8 | 申请日: | 2021-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN112731254B | 公开(公告)日: | 2021-07-13 |
| 发明(设计)人: | 王琎;胡喜 | 申请(专利权)人: | 北京齐碳科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;C12Q1/6869 |
| 代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 彭琼 |
| 地址: | 100080 北京市海淀区西小口路*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电流 测量 电路 校准 参数 确定 方法 装置 系统 设备 | ||
1.一种电流测量电路校准参数的确定方法,其特征在于,包括:
获取电容板上的任意一个电容的输出电流,所述电容与纳米孔基因测序仪的纳米孔的电流测量通道一一对应,所述电容板包括L个电容,所述L为正整数;
基于电流测量电路的激励信号的信号特征和所述输出电流,确定所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流之前,还包括:
测量所述电容板的L个电容各自对应的N个输出电流,并存储所述L个电容各自对应的N个输出电流,所述N为正整数;
所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流,包括:
从所述电容板的L个电容各自对应的N个输出电流中,获取所述电容板上的任意一个电容的M个输出电流序列,所述M为正整数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于电流测量电路的激励信号的信号特征和所述输出电流,确定所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:
对所述电容板上的任意一个电容的M个所述输出电流序列进行处理,得到M个所述输出电流序列各自对应的幅值和直流分量,得到M个幅值和M个直流分量;
基于M个所述幅值、M个所述直流分量和所述信号特征,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述激励信号的信号特征包括所述激励信号的斜率;
所述基于M个所述幅值、M个所述直流分量和所述信号特征,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:
基于M个所述幅值、所述激励信号的斜率,计算所述电容的M个所述输出电流序列各自对应的测量电容值;
基于所述电容的M个所述输出电流序列各自对应的测量电容值,计算所述电容的平均测量值;
基于M个所述直流分量,计算所述电容的平均直流分量;
基于所述电容的平均测量值、所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述电容的平均测量值、所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:
基于所述电容的真实值和所述平均测量值,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益;
基于所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的偏移误差。
6.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述电容为皮法pF级电容。
7.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述激励信号为三角波和正弦波中的任意一种。
8.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流,包括:
通过模拟数字转换器ADC获取所述电容板上的任意一个电容的输出电流。
9.一种电流测量电路校准参数的确定系统,其特征在于,包括:
电容板,所述电容板包括L个电容,所述电容与纳米孔基因测序仪的纳米孔的电流测量通道一一对应,所述L为正整数;
信号处理及转换模块,与所述电容板连接,用于采集所述电容板上每个所述电容的输出电流;
控制器,与所述信号处理及转换模块连接,用于执行如权利要求1-8任一所述的电流测量电路校准参数的确定方法;
电源模块,用于为所述电容板、所述信号处理及转换模块、所述控制器提供工作电压。
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