[发明专利]电流测量电路校准参数的确定方法、装置、系统及设备有效

专利信息
申请号: 202110344178.8 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN112731254B 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 王琎;胡喜 申请(专利权)人: 北京齐碳科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;C12Q1/6869
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 彭琼
地址: 100080 北京市海淀区西小口路*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电流 测量 电路 校准 参数 确定 方法 装置 系统 设备
【权利要求书】:

1.一种电流测量电路校准参数的确定方法,其特征在于,包括:

获取电容板上的任意一个电容的输出电流,所述电容与纳米孔基因测序仪的纳米孔的电流测量通道一一对应,所述电容板包括L个电容,所述L为正整数;

基于电流测量电路的激励信号的信号特征和所述输出电流,确定所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流之前,还包括:

测量所述电容板的L个电容各自对应的N个输出电流,并存储所述L个电容各自对应的N个输出电流,所述N为正整数;

所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流,包括:

从所述电容板的L个电容各自对应的N个输出电流中,获取所述电容板上的任意一个电容的M个输出电流序列,所述M为正整数。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于电流测量电路的激励信号的信号特征和所述输出电流,确定所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:

对所述电容板上的任意一个电容的M个所述输出电流序列进行处理,得到M个所述输出电流序列各自对应的幅值和直流分量,得到M个幅值和M个直流分量;

基于M个所述幅值、M个所述直流分量和所述信号特征,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述激励信号的信号特征包括所述激励信号的斜率;

所述基于M个所述幅值、M个所述直流分量和所述信号特征,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:

基于M个所述幅值、所述激励信号的斜率,计算所述电容的M个所述输出电流序列各自对应的测量电容值;

基于所述电容的M个所述输出电流序列各自对应的测量电容值,计算所述电容的平均测量值;

基于M个所述直流分量,计算所述电容的平均直流分量;

基于所述电容的平均测量值、所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述电容的平均测量值、所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益和偏移误差,包括:

基于所述电容的真实值和所述平均测量值,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的增益;

基于所述电容的平均直流分量,计算所述电容对应的纳米孔的电流测量通道的偏移误差。

6.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述电容为皮法pF级电容。

7.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述激励信号为三角波和正弦波中的任意一种。

8.根据权利要求1-5任一所述的方法,其特征在于,所述获取电容板上的任意一个电容的输出电流,包括:

通过模拟数字转换器ADC获取所述电容板上的任意一个电容的输出电流。

9.一种电流测量电路校准参数的确定系统,其特征在于,包括:

电容板,所述电容板包括L个电容,所述电容与纳米孔基因测序仪的纳米孔的电流测量通道一一对应,所述L为正整数;

信号处理及转换模块,与所述电容板连接,用于采集所述电容板上每个所述电容的输出电流;

控制器,与所述信号处理及转换模块连接,用于执行如权利要求1-8任一所述的电流测量电路校准参数的确定方法;

电源模块,用于为所述电容板、所述信号处理及转换模块、所述控制器提供工作电压。

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