[发明专利]一种片式无源元件的缺陷检测方法、装置及系统

说明书

本发明公开了一种片式无源元件的缺陷检测方法、装置及系统，所述方法包括：将待测片式无源元件以第一脉冲频率接入方波单脉冲电源，通过红外热成像仪对待测片式无源元件各侧面分别进行持续数据采集，并将采集得到的多张彩色温度分布图像进行温度色块处理，直至得到待测元件在各侧面的发热点位置，从而得到待测元件发热点的三维位置。本发明可以使任意尺寸和规格的片式无源元件以特定频率向外部传导热量，令元件的缺陷区域突显出来，且无需破坏元件，克服了以传统检测方法对片式无源元件进行激励时，只能检测到热量从元件内部通过热扩散到表面后，表面温度均匀分布的检测结果的缺点，实现了定位到元件的内部缺陷发热点位置的有益效果。

技术领域

本发明涉及电子元件缺陷检测领域，尤其涉及一种片式无源元件的缺陷检测方法、装置及系统。

背景技术

片式无源元件是当今手机、汽车等产品中必不可少的电子元件。

目前片式无源元件常见的无损探伤检测方法主要有超声波扫描、X-Ray透视、CT透视、渗透检测、红外热成像检测等。但这些方法存在着各种不同的缺陷，比如超声波扫描的精度较低；X-Ray透视和CT透视对尺寸小、叠层密度高的片式电容器和片式电感器无法进行内部结构检视；渗透检测的速度慢，且对元件表面的粗糙度有一定的要求；红外热成像检测虽然通过给予激励电流，可以使片式无源元件的缺陷点持续发热，从而进行定位，但是，传统红外热成像分析方法对片式无源元件表面温度进行检测时，只能检测到热量从片式无源元件内部通过热扩散到表面后，在其表面保护层温度均匀分布的检测结果，难以精确定位到内部缺陷点。此外，如果元件因MLCC局部某层陶瓷介质致密度下降导致元件产生隐性缺陷点，现有技术亦难以检测出隐性缺陷所产生的微弱功耗。

可见，现有技术无法准确定位片式无源元件在工作时的发热点，难以对元件进行可靠性分析。因此，对片式无源元件的可靠性检测提出了新的需求。

发明内容

本发明提供了一种片式无源元件的缺陷检测方法、装置及系统，以解决现有技术对片式无源元件的表面温度进行检测时，难以定位到元件的内部缺陷发热点位置的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种片式无源元件的缺陷检测方法，包括以下步骤：

步骤S1、将待测片式无源元件以第一脉冲频率接入方波单脉冲电源；

步骤S2、通过红外热成像仪对所述待测片式无源元件的当前照射面进行持续数据采集；

步骤S3、待采集时间满足预设时长后，获得按时间顺序进行排序的多张彩色温度分布图像；

步骤S4、根据时间顺序，确定所述多张彩色温度分布图像分别对应的方波单脉冲信号电压值，并分别对电压峰值和断电时的彩色温度分布图像进行温度色块处理，得到在所述第一脉冲频率的方波单脉冲信号下，所述待测片式无源元件在当前照射面的发热点位置；

步骤S5、翻转所述待测片式无源元件，并重复步骤S2至S4，依次得到在所述第一脉冲频率的方波单脉冲信号下，所述待测片式无源元件在各侧面的发热点位置，从而得到所述待测片式无源元件发热点的三维位置。

作为优选方案，所述步骤S4具体为：

按照时间顺序，提取电压峰值和断电时对应的多张彩色温度分布图像，并对提取的图像进行时间排序；

按照图像的排序，依次对提取的彩色温度分布图像进行温度色块处理，直到得到在所述第一脉冲频率的方波单脉冲信号下，所述待测片式无源元件在当前照射面的发热点位置。

作为优选方案，所述步骤S4具体为：

按照时间顺序，提取电压峰值和断电时对应的多张彩色温度分布图像；