[发明专利]一种CPU性能测试探针清洁方法有效
申请号: | 202110339325.2 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN112916504B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 金麒龙 | 申请(专利权)人: | 苏州宏达威电子科技有限公司 |
主分类号: | B08B3/12 | 分类号: | B08B3/12;B08B3/02;B08B13/00 |
代理公司: | 苏州企知鹰知识产权代理事务所(普通合伙) 32420 | 代理人: | 蔡天明 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cpu 性能 测试 探针 清洁 方法 | ||
1.一种CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,包括:
步骤一:对待清洗探针进行超声波脱脂去油处理3-5min,脱脂去油药剂的PH为7.0-8.5;
步骤二:用32-45℃的温水进行冲洗,冲洗时长为5-10s;
步骤三:用蒸馏水冲洗3-5s使探针温度下降至室温;
步骤四:将探针置于清洗槽内,在清洗槽内加入清洗药剂进行超声波振荡清洗,清洗时长为5-8min,其中,清洗药剂包含活性剂;
步骤五:用温度为室温的清洗水进行多道水洗;
步骤六:对水洗完成的探针进行干燥处理。
2.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤一中超声波脱脂去油处理时长为3.5min,脱脂去油药剂的PH为7.5-8。
3.根据权利要求2所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤一中所述脱脂去油药剂为浓度为2-3%的脱脂剂AS-209的水溶液。
4.根据权利要求3所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤二中温水的温度为35-38℃,冲洗时长为6-8s。
5.根据权利要求4所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤四中所述活性剂包括阴离子型表面活性剂和/或非离子型表面活性剂。
6.根据权利要求5所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤四中所述清洗药剂包括质量百分比为3-6%的阴离子型表面活性剂和质量百分比为8-12%的非离子型表面活性剂。
7.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤五具体包括:初水洗,水洗时间为3-8s;蒸馏水水洗,水洗时间为3-8s;超声波水洗,水洗时间为20-45s;以及三联纯水水洗,水洗时间为8-15s。
8.根据权利要求1或7所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤五中所述清洗水的导电率小于20μs/m。
9.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤六具体包括:
对水洗完成的探针进行风干干燥,干燥时长为1-3min;
将风干完成的探针置于烤箱内进行烘干干燥,干燥温度为55-75℃,烘干时长为20-30min。
10.根据权利要求9所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述烘干干燥时采用上下对称热源,所述热源为加热管、加热灯和加热板中的一种或多种。
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