[发明专利]一种CPU性能测试探针清洁方法有效

专利信息
申请号: 202110339325.2 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN112916504B 公开(公告)日: 2022-11-18
发明(设计)人: 金麒龙 申请(专利权)人: 苏州宏达威电子科技有限公司
主分类号: B08B3/12 分类号: B08B3/12;B08B3/02;B08B13/00
代理公司: 苏州企知鹰知识产权代理事务所(普通合伙) 32420 代理人: 蔡天明
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 cpu 性能 测试 探针 清洁 方法
【权利要求书】:

1.一种CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,包括:

步骤一:对待清洗探针进行超声波脱脂去油处理3-5min,脱脂去油药剂的PH为7.0-8.5;

步骤二:用32-45℃的温水进行冲洗,冲洗时长为5-10s;

步骤三:用蒸馏水冲洗3-5s使探针温度下降至室温;

步骤四:将探针置于清洗槽内,在清洗槽内加入清洗药剂进行超声波振荡清洗,清洗时长为5-8min,其中,清洗药剂包含活性剂;

步骤五:用温度为室温的清洗水进行多道水洗;

步骤六:对水洗完成的探针进行干燥处理。

2.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤一中超声波脱脂去油处理时长为3.5min,脱脂去油药剂的PH为7.5-8。

3.根据权利要求2所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤一中所述脱脂去油药剂为浓度为2-3%的脱脂剂AS-209的水溶液。

4.根据权利要求3所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤二中温水的温度为35-38℃,冲洗时长为6-8s。

5.根据权利要求4所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤四中所述活性剂包括阴离子型表面活性剂和/或非离子型表面活性剂。

6.根据权利要求5所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤四中所述清洗药剂包括质量百分比为3-6%的阴离子型表面活性剂和质量百分比为8-12%的非离子型表面活性剂。

7.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤五具体包括:初水洗,水洗时间为3-8s;蒸馏水水洗,水洗时间为3-8s;超声波水洗,水洗时间为20-45s;以及三联纯水水洗,水洗时间为8-15s。

8.根据权利要求1或7所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤五中所述清洗水的导电率小于20μs/m。

9.根据权利要求1所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述步骤六具体包括:

对水洗完成的探针进行风干干燥,干燥时长为1-3min;

将风干完成的探针置于烤箱内进行烘干干燥,干燥温度为55-75℃,烘干时长为20-30min。

10.根据权利要求9所述的CPU性能测试探针清洁方法,其特征在于,所述烘干干燥时采用上下对称热源,所述热源为加热管、加热灯和加热板中的一种或多种。

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