[发明专利]一种光谱检测装置及矿石光谱检测设备在审

专利信息
申请号: 202110336069.1 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN112858176A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 王利兵;陈志强;魏红兵;孙尚民;胡煜;李宁涛;韩伟;杨博锋;苏明跃;杨永超;徐强;武素茹;严莎;都彦格 申请(专利权)人: 津海威视技术(天津)有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/3563;G01N21/71
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 赵剑峰;颜镝
地址: 300308 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 检测 装置 矿石 设备
【说明书】:

发明提供一种光谱检测装置及矿石光谱检测设备。光谱检测装置,其特征在于,包括样品台,其用于承载待测对象;成像系统,包括照明装置、图像传感器和对焦装置;照明装置发射用于照射待测对象的照明光;图像传感器采集待测对象的图像数据;对焦装置被配置为对成像系统进行对焦,以及获取焦距信息;基于激光的光谱系统,包括激光源、第一探测器和调焦装置;激光源发射用于照射待测对象的激光;第一探测器接收待测对象与激光相互作用产生的光;调焦装置与对焦装置通信连接,并根据焦距信息控制激光聚焦于待测对象。

技术领域

本发明涉及光谱检测领域,具体涉及一种光谱检测装置及矿石光谱检测设备。

背景技术

相关技术在进行矿石的固废属性筛查的方法包括:作业人员现场依照取样标准取样,将取得的样品送往实验室进行物理检测、化学分析。

相关技术采用包括化学滴定分析、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)、原子吸收光谱(AAS)和X射线荧光光谱(XRF)等方法对矿石进行分析。但是上述方法所涉及的设备基本都为实验室设备,需要将样品带回实验室处理。

掺杂、掺假、以次充好的铁矿石需要依靠现场查验,目前,查验人员需凭经验判定嫌疑样品,再将嫌疑样品送实验室进行固体废物属性鉴别,尚没有适合的设备用于筛查高风险铁矿石,以及辅助查验人员进行现场技术执法。

发明内容

本公开创造性地提出一种对矿石的固废属性进行现场快速筛查的光谱检测装置,该设备可应用于矿石固属性废筛查最前端的锚地、岸边、堆场等场所。

本公开创造性地提出一种光谱检查装置,该装置集成了成像系统和基于激光的光谱系统。成像系统能够对待测对象进行拍照和录像,为现场执法提供了证据留存功能,基于激光的光谱系统能够对待测对象进行激光光谱分析,获得待测对象的元素数据。

成像系统和基于激光的光谱系统除了上述各自的功能优势,成像系统和基于激光的光谱系统还协同工作,具体地,成像系统在成像时通过对焦装置对焦并获取焦距信息,成像系统将该焦距信息发送给基于激光的光谱系统的调焦装置,基于激光的光谱系统调焦装置能够根据该焦距信息调整激光的焦距,使激光准确地聚焦在待测对象表面,如此实现了一举多得的有益效果。

基于上述创造性构思,本公开提供如下技术方案。

在一些方面,本公开提供一种光谱检测装置,其特征在于,包括样品台,其用于承载待测对象;

成像系统,包括照明装置、图像传感器和对焦装置;

其中,照明装置发射用于照射待测对象的照明光;

其中,图像传感器采集待测对象的图像数据;

其中,对焦装置被配置为对成像系统进行对焦,以及获取焦距信息;

基于激光的光谱系统,包括激光源、第一探测器和调焦装置;

其中,激光源发射用于照射待测对象的激光;

其中,第一探测器接收待测对象与激光相互作用产生的光;

其中,调焦装置与对焦装置通信连接,并根据焦距信息控制激光聚焦于待测对象。

在一些实施方案中,光谱检测装置还包括红外光谱系统,红外光谱系统包括红外光光源和第二探测器;

其中,红外光光源发射用于照射待测对象的红外光;

其中,第二探测器包括采集窗,采集窗在预设波段接收待测对象与红外光相互作用产生的光。

在一些实施方案中,光谱检测装置还包括滤光体,滤光体对预设波段的光有滤除效果,滤光体设置在从照明装置射向采集窗的光线路径上。

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