[发明专利]一种高压快速的碳化硅二极管及其制备方法有效
申请号: | 202110326189.3 | 申请日: | 2021-03-26 |
公开(公告)号: | CN113130625B | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 刘柏光 | 申请(专利权)人: | 先之科半导体科技(东莞)有限公司 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329 |
代理公司: | 东莞市永桥知识产权代理事务所(普通合伙) 44400 | 代理人: | 姜华 |
地址: | 523430 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高压 快速 碳化硅 二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种高压快速的碳化硅二极管,包括碳化硅二极管,其特征在于,所述碳化硅二极管包括塑封外壳(1)、碳化硅芯片(2)、阴极引脚(3)、阳极引脚(4)、助焊板(5),所述碳化硅芯片(2)包括N+碳化硅衬底(21)、覆盖在所述N+碳化硅衬底(21)上端的N-碳化硅外延层(22)、覆盖在所述N+碳化硅衬底(21)下端的阴极金属(23)、位于所述N+碳化硅衬底(21)与N-碳化硅外延层(22)交接处外侧面的二氧化硅层(24)、形成于所述N-碳化硅外延层(22)的边缘并位于所述二氧化硅层(24)上端一侧的P型保护环(25)、覆盖在所述二氧化硅层(24)、N-碳化硅外延层(22)上端的阳极金属(26),所述N-碳化硅外延层(22)的上端面、外侧面与所述阳极金属(26)的交界处均形成肖特基势垒,所述二氧化硅层(24)上端面的水平高度低于所述N-碳化硅外延层(22)上端面的水平高度,所述阳极金属(26)与所述阳极引脚(4)焊接,所述助焊板(5)一端与所述阴极引脚(3)焊接,另一端与所述阴极金属(23)焊接,所述N-碳化硅外延层(22)上端边角为R角结构。
2.根据权利要求1所述的一种高压快速的碳化硅二极管,其特征在于,所述阳极引脚(4)包括第一导电部(41)、第一弯折部(42)、第一焊接部(43),所述第一导电部(41)上设有凹槽,所述阳极金属(26)焊接在所述凹槽内侧。
3.根据权利要求1所述的一种高压快速的碳化硅二极管,其特征在于,所述阴极引脚(3)包括第二导电部(31)、第二弯折部(32)、第二焊接部(33),所述第二导电部(31)与所述助焊板(5)焊接。
4.一种如权利要求1~3任一项所述的碳化硅二极管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1外延生长:在N+碳化硅衬底(21)上生长一层N-碳化硅外延层(22);
S2研磨:对N-碳化硅外延层(22)上端边角进行研磨,使N-碳化硅外延层(22)上端边角呈R角结构;
S3:沉积二氧化硅:在N+碳化硅衬底(21)与N-碳化硅外延层(22)交接处外侧面沉积一层二氧化硅层(24),所述二氧化硅层(24)上端面的水平高度低于所述N-碳化硅外延层(22)上端面的水平高度;
S4扩散硼:对二氧化硅层(24)上端一侧扩散硼,使N-碳化硅外延层(22)的边缘形成P型保护环(25);
S5沉积金属:在二氧化硅层(24)、N-碳化硅外延层(22)上端沉积一层阳极金属(26),阳极金属(26)与N-碳化硅外延层(22)之间形成肖特基势垒,在N+碳化硅衬底(21)下端沉积一层阴极金属(23);
S6焊接:将阳极金属(26)与阳极引脚(4)焊接,将助焊板(5)一端与阴极引脚(3)焊接,另一端与阴极金属(23)焊接;
S7塑封:经过上胶、烘烤、塑封、固化后形成塑封外壳(1)。
5.根据权利要求4所述的一种碳化硅二极管的制备方法,其特征在于,步骤S7塑封前,还经过酸洗步骤,酸洗步骤包括:利用混合酸冲洗碳化硅芯片(2)表面,去除碳化硅芯片(2)表面吸附的杂质,并降低表面电场,再用清水对碳化硅芯片(2)冲洗三遍,热风烘干后即可。
6.根据权利要求5所述的一种碳化硅二极管的制备方法,其特征在于,所述混合酸为硝酸、氢氟酸、醋酸、硫酸的混合液,硝酸、氢氟酸、醋酸、硫酸的体积比为:10:0.2:8:5。
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