[发明专利]一种电磁继电器触点回跳时间测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 202110323046.7 申请日: 2021-03-25
公开(公告)号: CN113066694A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 徐晟;林道谭;李兴;石延辉;杨绍东;牛峥;黄伟冠;甘卿忠;何海欢;王晨涛 申请(专利权)人: 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局
主分类号: H01H47/00 分类号: H01H47/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 唐菲
地址: 510000 广东省广州市萝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电磁 继电器 触点 时间 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,包括继电器负载电阻、控制单元、电源单元、信号发生器和数据采集器,

所述控制单元分别与所述信号发生器、所述电源单元及测试继电器线圈的第一端连接;

所述测试继电器线圈的第二端与所述电源单元连接;

所述测试继电器待测触点的第一端与所述继电器负载电阻及所述数据采集器连接,所述测试继电器待测触点的第二端与所述电源单元连接;

所述数据采集器还与所述继电器负载电阻连接。

2.根据权利要求1所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述控制单元包括光电耦合子单元和场效应控制子单元,

所述光电耦合子单元分别与所述信号发生器、所述电源单元及所述场效应控制子单元连接;

所述场效应控制子单元与所述测试继电器线圈的第一端连接。

3.根据权利要求2所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述光电耦合子单元包括保护电阻、发光二极管和光电耦合器,

所述保护电阻、所述发光二极管和所述光电耦合器依次连接,所述光电耦合器及所述保护电阻还分别与所述信号发生器连接,所述光电耦合器还分别与所述电源单元及所述场效应控制子单元连接。

4.根据权利要求2所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述场效应控制子单元包括场效应管、第一分压电阻和第二分压电阻,

所述第一分压电阻的第一端与所述光电耦合子单元连接,所述第一分压电阻的第二端与所述场效应管的第一端连接;

所述第二分压电阻的第一端与所述光电耦合子单元连接,所述第二分压电阻的第二端接地;

所述场效应管的第二端与所述测试继电器线圈的第一端连接,所述场效应管的第三端接地。

5.根据权利要求2所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述电源单元包括继电器线圈驱动电源、继电器负载电源和光电耦合负载电源,

所述继电器线圈驱动电源与所述测试继电器线圈的第二端连接;所述继电器负载电源与所述继电器的待测触点的第二端连接;所述光电耦合器负载电源与所述光电耦合子单元连接。

6.根据权利要求1所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述测试继电器线圈的两端还与二极管连接。

7.根据权利要求1所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,其特征在于,所述测试继电器的待测触点的第一端还连接有一测试点,所述测试继电器的待测触点及所述继电器负载电阻通过所述测试点与所述数据采集器连接。

8.一种电磁继电器触点回跳时间测试方法,其特征在于,应用于如权利要求1至7中任一项所述的电磁继电器触点回跳时间测试装置,所述方法包括:

将所述测试继电器接入所述电磁继电器触点回跳时间测试装置;

调节所述电磁继电器触点回跳时间测试装置对应的参数;

开启所述信号发生器及所述数据采集器;

通过所述数据采集器获得所述测试继电器触点回跳时间的测试结果。

9.根据权利要求8所述的电磁继电器触点回跳时间测试方法,其特征在于,所述调节所述电磁继电器触点回跳时间测试装置对应的参数,包括:

根据所述测试继电器的性能参数及预定测试参数,调节所述电磁继电器触点回跳时间测试装置对应的参数。

10.根据权利要求9所述的电磁继电器触点回跳时间测试方法,其特征在于,所述电源单元包括继电器线圈驱动电源、继电器负载电源和光电耦合负载电源;

在根据所述测试继电器的性能参数及预定测试参数,调节所述电磁继电器触点回跳时间测试装置对应的参数时,将所述继电器线圈驱动电源设置为所述测试继电器线圈的额定电压,将所述继电器负载电源设置为6V,将所述光电耦合负载电源设置为12V。

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