[发明专利]一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法在审
申请号: | 202110321763.6 | 申请日: | 2021-03-25 |
公开(公告)号: | CN113055007A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 戴锐;吴晓勇;崔松叶 | 申请(专利权)人: | 深圳前海维晟智能技术有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 | 代理人: | 罗炳锋 |
地址: | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低成本 延时 sar adc 硬件 校正 算法 | ||
1.一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,其特征在于,采用如下处理步骤:
S1、定义寄存器AM和寄存器AK,通过寄存器AM和寄存器AK配置一个硬件算法电路,寄存器AM的符号位为Fm,寄存器AK的符号位为Fk,硬件算法电路以ADC输出数据Ya为输入;
S2、算法电路通过Ya获得校正值TEMP1,其中
TEMP1=Ya+(Fm?AM:-AM);
S3、算法电路通过TEMP1获得校正值TEMP2,其中
TEMP2=(Fk?AK:-AK)*TEMP1;
S4、算法电路根据校正值TEMP1和校正值TEMP2获得ADC输出数据校正值Yb,其中
Yb=TEMP1+TEMP2。
2.如权利要求1所述的一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,其特征在于,在步骤S1中,寄存器AM及其符号位Fm、寄存器AK及其符号位Fk的定义采用如下步骤:
S11、采样两个理想的ADC输入电压下的ADC输出数据,根据这两个两个理想的ADC输入电压拟合出ADC输入电压X与ADC输出数据Ya的一元一次方程为Ya=Ka*X+Ma;
其中,Ka和Ma为预设的方程系数;
S12、预设理想的ADC输出数据Yb=Kb*X;
其中,Kb为预设的方程系数;
据此,理想的ADC输出数据Yb=(Kb/Ka)*(Ya–Ma);
在此基础上,代入寄存器AM及其符号位Fm、寄存器AK及其符号位Fk,则理想的ADC输出数据Yb进一步变换为
Yb=(1+(Fk?|(Kb-Ka)/Ka|:-|(Kb-Ka)/Ka|)*(Ya+(Fm?|Ma|:-|Ma|))
据此计算得出需要配置的AM、AK、Fm和Fk,并据此进行寄存器AM及其符号位Fm、寄存器AK及其符号位Fk的定义。
3.如权利要求2所述的一种低成本零延时的SAR-ADC硬件校正算法,其特征在于,步骤S12中,鉴于|Kb-Ka/Ka|是一个比较小的小数,因此以用Kc/16384代替,其中Kc是一个小于256的数,|Ma|也是一个小于256的数;定义寄存器AM=|Ma|,定义寄存器AK=Kc,理想的ADC输出数据Yb进一步变换为
Yb=(1+(Fk?AK:-AK)/16384)(Ya+(Fm?AM:-AM));
据此计算得出需要配置的AM、AK、Fm和Fk,并据此进行寄存器AM及其符号位Fm、寄存器AK及其符号位Fk的定义。
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