[发明专利]一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路及其系统

权利要求书

1.一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，对传输中的数据采用硬件校验，其特征在于：包括与触摸屏通信和处理电流检测信号的主单片机、分别控制周向、纵向电流磁化工作的第一次级单片机、第二次级单片机，还包括异或门、或门、第一电阻、第二电阻、第五电阻、第六电阻、第一二极管、第二二极管、第一三极管、第二三极管、第一蜂鸣器和第二蜂鸣器；

所述主单片机与第一次级单片机相连，传输第一完全数据和用于校验的第一完全数据的第一输幅值校验位数据；所述主单片机与第二次级单片机相连，传输第二完全数据和用于检验第二完全数据的第二幅值校验位数据；所述主单片机还通过IIC通信传输冗余电流参数数据；

所述主单片机、第一次级单片机与异或门相连，所述主单片机、第二次级单片机与异或门相连；所述主单片机F端口的第0~15个引脚与第一次级单片机F端口的第0~15个引脚相连，所述主单片机C端口第0~7个引脚与第一次级单片机C端口的第0~7个引脚相连；所述主单片机G端口的第0~15个引脚与第二次级单片机G端口的第0~15个引脚相连，所述主单片机D端口的第0~7引脚与第二次级单片机D端口的第0~7个引脚相连；所述主单片机C端口的第0~7个引脚、第一次级单片机F端口的第0~7个引脚与异或门相连；所述主单片机D端口的第0~7个引脚和第二次级单片机G端口的第0~7个引脚与异或门相连；

所述主单片机与第一次级单片机之间传输的第一完全数据和第一幅值校验位数据送入异或门校验，异或门校验结果合并后输入至或门；其中，第一完全数据和第一幅值校验位数据均为八位；第一完全数据和第一幅值校验位数据之间的差异使得异或门和或门输出高电平；所述或门两输出端分别连接第一电阻、第二电阻的一端，所述第一电阻、第二电阻的另一端分别与第一二极管的一端连接，所述第一二极管的另一端与第一三极管的基极相连，所述第一三极管的发射极接地，所述第一三极管的集电极与第一发光二极管的一端相连，所述第一发光二极管的另一端与第一蜂鸣器的正极相连，所述第一蜂鸣器的负极与所述第一三极管的集电极相连，高电平驱动第一发光二极管点亮、第一蜂鸣器蜂鸣，发出报警信息；所述第一次级单片机对高电平做出反馈，接收主单片机通过IIC通信传输的冗余电流参数数据，直至数据正常；

所述主单片机与第二次单片机之间传输的第二完全数据和第二幅值校验位数据送入异或门校验，异或门校验结果合并后输入至或门；其中，第二完全数据和第二幅值校验位数据均为八位；第二完全数据和第二幅值校验位数据之间的差异使得异或门和或门输出高电平；所述或门两输出端分别连接第五电阻、第六电阻的一端，所述第五电阻、第六电阻的另一端分别与第二二极管的一端连接，所述第二二极管的另一端与第二三极管的基极相连，所述第二三极管的发射极接地，所述第二三极管的集电极与第二发光二极管的一端相连，所述第二发光二极管的另一端与第二蜂鸣器的正极相连，所述第二蜂鸣器的负极与所述第二三极管的集电极相连，高电平驱动第二发光二极管点亮、第二蜂鸣器蜂鸣，发出报警信息；所述第二次级单片机对高电平做出反馈，接收主单片机通过IIC通信传输的冗余电流参数数据，直至数据正常；

所述主单片机F端口读取16位冗余电流参数完全数据，所述主单片机D端口读取8位冗余电流参数幅值校验数据，数据一致时连续读取三次F端口的16位冗余电流参数完全数据，共读取4次16位冗余电流参数完全数据；16位冗余电流参数完全数据低八位为0x88，主单片机开始可控硅控制工作；16位冗余电流参数完全数据低八位为0x99，主单片机停止可控硅控制工作。

2.根据权利要求1所述的一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验电路，其特征在于：所述16位电流参数完全数据和8位电流参数幅值校验数据电流倍数小于2倍的设定电流。

3.一种磁粉探伤机的多芯单片机间数据校验的系统，其特征在于：包括权利要求1至2中任一项所述的数据校验电路；

所述数据校验电路对传输中的数据进行硬件校验，数据硬件校验无误后，主单片机分别读取D端口和F端口数据，数据一致时再次读取三次F端口数据，其中有三次F口数据一致，数据有效；

所述数据校验电路对传输中的数据进行硬件校验，数据硬件校验有误后，第一次级单片机或第二次级单片机对高电平做出反馈，接收主单片机通过IIC通信传输的冗余电流参数数据，直至数据正常。